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journal: tm - Technisches Messen
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Zeitschrift
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tm - Technisches Messen

Measurement Technology – Methods, Sensors, Systems, and Applications
  • Editors-in-Chief: Thomas Fröhlich und Bernhard Zagar
Sprache: Deutsch
Erstveröffentlichung: 1. Januar 1931
Erscheinungsweise: 12 Hefte pro Jahr

Über diese Zeitschrift

Zielsetzung

tm – technisches messen dient dem Informations- und Erfahrungsaustausch zwischen den Entwicklern anwendungsreifer Sensoren, Messsysteme und Messverfahren und den Herstellern und Messtechnikern in der Anwendung.

Themen

  • Herstellung und Eigenschaften neuer Sensoren für die Messtechnik im industriellen Bereich
  • Beschreibung neuer Messverfahren
  • hard- und software-mäßige Verarbeitung und Auswertung von Messsignalen zur Gewinnung von Messwerten
  • Ergebnisse aus dem Einsatz neuer Messsysteme und -verfahren

Ihre Vorteile

tm - technisches messen präsentiert im Folgenden die Editor’s Choice – Beiträge mit unbeschränktem Zugang:

Vol. 91, Supplement 1: XXXVIII. Messtechnisches Symposium 2024

Vol. 90, Supplement 1: XXXVII. Messtechnisches Symposium 2023

Vol. 89, Supplement 1: XXXVI. Messtechnisches Symposium 2022

Vol. 88, Supplement 1: XXXV. Messtechnisches Symposium 2021

Vol. 87, Supplement 1: XXXIV. Messtechnisches Symposium 2020

Vol. 86, Supplement 1: XXXIII. Messtechnisches Symposium 2019

Vol. 85, Supplement 1: XXXII. Messtechnisches Symposium 2018

Vol. 84, Supplement 1: XXXI. Messtechnisches Symposium 2017


Your benefits

  • Professional journal for application-based industrial measurement as one of the essential components of automation, process monitoring, quality control and safety engineering
  • Official organ of AMA (The Association for Sensor Technology) and NAMUR (The Process-Industry Interest Group for Automation Technology)
  • Includes notifications from GMA (The VDI/VDE Society for Measurement and Automatic Control)
  • Renowned Editorial Board
  • High-quality contributions
  • Special issues
  • Print- and online-publication

  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Resolution enhancement and edge ringing suppression in digital holography using speckle illumination
    7. Januar 2026
    Antonius Schiebelbein, Tobias Schmitt-Manderbach, Daniel Bublitz, Dirk Seidel, Giancarlo Pedrini, Stephan Reichelt
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Speckle shift tracking sensor for high accuracy 6-DoF pose measurements
    7. Januar 2026
    Niklas Borchers, Ulrich Vogl, Carsten Glasenapp, Tobias Haist, Stephan Reichelt
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Tubular light beam with propagation-invariant diameter based on diffractive axicons
    9. Januar 2026
    Niklas Saß, Christof Pruß, Daniel Schachtler, Kevin Treptow, Oliver Krieglsteiner, Stephan Reichelt
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Spectral analysis of malignant and healthy tissue based on hyperspectral image data
    9. Januar 2026
    Andrea Rüdinger, Veronika Bahlinger, Annika Simma, Annette Staebler, Tobias Haist, Sara Y. Brucker, Falko Fend, Stephan Reichelt
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Farbkorrigierte, anamorphotische Prismensysteme
    7. Januar 2026
    Eckhard Langenbach
  • 19. Januar 2026
    David Bischof, Marco Roth, Fabian Alder, Reto Besserer, Tina Strüning, Markus Michler
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Corneal-glint-based estimation of the binocular point of gaze without worn sensors
    9. Januar 2026
    Fabian Leven, Michael Heizmann
  • 12. Januar 2026
    Simon Hartel, Christian Faber
  • 19. Januar 2026
    Tino Hausotte, Georg Hein, Yujie Zhong, Julien Schinn, Norbert Rogge, Thomas Fröhlich
  • 19. Januar 2026
    Luca Bifano, Lara Pötzinger, Gerhard Fischerauer

Die Zeitschrift tm - Technisches Messen veröffentlicht Sonder- und Themenhefte, die sich auf wichtige und neu aufkommende Themen im Bereich der Forschung konzentrieren. Die Zeitschrift hat ein strenges Verfahren eingeführt, um sicherzustellen, dass alle Manuskripte für Sonderausgaben denselben Qualitätsstandards und Peer-Review-Verfahren unterliegen wie reguläre Manuskripte. Weitere Informationen über die Peer-Review-Politik der Zeitschrift finden Sie in den "Hinweisen für Autoren".
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Prof. Dr.-Ing. A. Fischer, Bremen
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Zeitschriften Informationen
Weitere Informationen
eISSN:
2196-7113
ISSN:
0171-8096
Sprache:
Deutsch
Verlag:
Oldenbourg Wissenschaftsverlag
Weitere Informationen
Erstveröffentlichung:
1. Januar 1931
Erscheinungsweise:
12 Hefte pro Jahr
Heruntergeladen am 20.1.2026 von https://www.degruyterbrill.com/journal/key/teme/html
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