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Volume 60, Issue 2
Contents
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Publicly AvailableInhalt / ContentsFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedBestimmung von Widerstandsgrößen im Milliohm-Bereich / Determination of resistances in the milliohm rangeLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedProduktinformationen / Product informationsLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedMeßfehlerunterdrückung bei der Leitfähigkeitsmessung mit Wirbelstrom / Error reduction in eddy current conductivity measurementsLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedProduktinfoimationen / Product informationsLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedMessung der Magnetisierungskurve in Kleinrelais zur Bestimmung des Schaltverhaltens / Controlling of the switching behaviour of miniature relays by the measurement of magnetization curvesLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedAus der Industrie / News from the industryLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedMomente höherer Ordnung zur Bildauswertung bei der Leiterplattenbestückung / Moments of higher order for image evaluation in the assembly of printed circuit boardsLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedMeßverfahren zur prozeßgekoppelten Konzentrationsbestimmung in flüssigen Mehrstoflgemischen / Measure technique for on-line analysis in liquid mixturesLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedProduktinformationen / Product informationsLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication Unlicensedtm-Serie / tm-Series: Industrielle Gasanalyse / Industrial gas analysisLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication Unlicensedtm-Gastvorlesung / tm-Tutorial: Signalverarbeitung mit Cepstrum / Signal processing by cepstrum analysisLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedProduktinformationen / Product informationsLicensedFebruary 1, 1993
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Requires Authentication UnlicensedVeranstaltungskalender / Meetings to comeLicensedFebruary 1, 1993
