Heft
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Nicht lizenziert
Erfordert eine Authentifizierung
Band 66, Heft 11
Inhalt
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Öffentlich zugänglichInhalt1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertIMPRESSUMLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertEDITORIAL: Analyse und Modellierung technischer Oberflächen mit kombinativer Lasermeßtechnik / Analysis and Modeling of Technical Surfaces with Combinative Laser MetrologyLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertHochauflösende Vermessung ausgedehnter technischer Oberflächen mit skalierbarer Topometrie / Highly-Resolved Measurement of Extended Technical Surfaces with Scalable TopometryLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertMessung und Beschreibung von Mikrostrukturen unter Berücksichtigung materialspezifischer Eigenschaften / Measurement and Description of Microstructures with Consideration of Material-Specific CharacteristicsLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertHochauflösende Topometrie im Kontext globaler Makrostrukturen / High Resolution Topometry in Conjunction with Macro StructuresLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertHochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien / High-Precision Optical Profilometry at Surfaces with Varying MaterialsLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertPräzise Strukturmeßtechnik mit lasergestützter Mikroellipsometrie / Precise Structure Measurement using Laser-Based MicroellipsometryLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertAnalyse dynamischer Vorgänge an technischen Oberflächen mit Speckle-Korrelation / Analysis of Surface Processes by Means of Speckle-CorrelationLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertLITERATUR. PRODUKTINFORMATIONENLizenziert1. November 1999
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertVERANSTALTUNGSKALENDERLizenziert1. November 1999
