Inhalt
- Contents/Inhalt
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertInhalt / ContentsLizenziert5. Mai 2013
- Technical Contributions/Fachbeiträge
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertMetallographic Characterization of Additive-Layer Manufactured Products by Electron Beam Melting of Ti-6Al-4V PowderLizenziert5. Mai 2013
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertA Comparison of Grain Quantitative Evaluation Performed with Standard Method of Imaging with Light Microscopy and EBSD AnalysisLizenziert5. Mai 2013
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertImplications of EBSD-based Grain Size Measurement on Structure-Property CorrelationsLizenziert5. Mai 2013
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Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziertCo-site Microscopy: Case StudiesLizenziert5. Mai 2013