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5. Mai 2013
Online erschienen: 2013-05-05
Erschienen im Druck: 2009-09-01
© 2009, Carl Hanser Verlag, München
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Artikel in diesem Heft
- Contents/Inhalt
- Inhalt / Contents
- Technical Contributions/Fachbeiträge
- Metallographic Characterization of Additive-Layer Manufactured Products by Electron Beam Melting of Ti-6Al-4V Powder
- A Comparison of Grain Quantitative Evaluation Performed with Standard Method of Imaging with Light Microscopy and EBSD Analysis
- Implications of EBSD-based Grain Size Measurement on Structure-Property Correlations
- Co-site Microscopy: Case Studies
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- Contents/Inhalt
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- Technical Contributions/Fachbeiträge
- Metallographic Characterization of Additive-Layer Manufactured Products by Electron Beam Melting of Ti-6Al-4V Powder
- A Comparison of Grain Quantitative Evaluation Performed with Standard Method of Imaging with Light Microscopy and EBSD Analysis
- Implications of EBSD-based Grain Size Measurement on Structure-Property Correlations
- Co-site Microscopy: Case Studies
