Band 43, Heft 10

Kurzfassung Dual-Phasen- und TRIP-Stähle bilden eine neue Generation von hochfesten Stählen mit einer überlegenen Kombination von Festigkeit und Duktilität. Damit kann Stahl vor allem seine Position in der Automobilindustrie als Konstruktionswerkstoff für den Leichtbau weiter ausbauen. Ähnlich dem Prinzip von Verbundwerkstoffen bestimmen Menge und Anordnung von harten Zweitphasen wie Martensit, Bainit und Restaustenit das Eigenschaftsprofil dieser Mehrphasenstähle. Über Modellüberlegungen zum selektiven Ätzabtrag und zur Kontrastierung durch Farbniederschlagsätzungen, sowie über die Überprüfung dieser Modelle anhand der Anwendung unterschiedlicher Ätzmittel wird ein Beitrag zum Verständnis der Ätztechnik und damit zur korrekten Interpretation des Gefügeaufbaues von DP- und TRIP-Stählen geleistet.

An experimental study has been conducted on different unmodified and Sr-modified Al-Si alloys and one short fibre reinforced AlSi7 alloy (SFRM) to evaluate the morphological differences of eutectic Si in the as cast condition and after solution treatments. Al-Si alloys, with 7% and higher content of Si, present a percolating Si-network in the as-cast condition. The addition of strontium produces morphological changes in the network from lamellar Si to a fine dispersed coral fibrous like architecture. Spheroidization and coarsening of the eutectic Si architecture is studied after different exposure times at 540°C. It is observed that the integrity of these networks is very sensitive to solution treatment disintegrating into Si particles decreasing the hardness of the alloys. This effect is avoided by the embedding of alumina fibres into an AlSi7 matrix forming an Al2O3-Si-network. The morphology and rigidity of these isolated structures revealed by deep etching and hardness tests are studied after different solution treatment times.

Kurzfassung Bei der Untersuchung der Verbindungsbildung von Bondkontakten sehr geringer Ausdehnung (25 μm-AlSi1-Draht auf Cu/Ni/Au-Metallisierung einer Leiterplatte) steht mit der Methode des Fokusierten Ionenstrahles (FIB) für die TEM-Zielpräparation ein sehr effektives Verfahren zur Verfügung, das die genaue Entnahme einer Lamelle aus dem interessierenden Probenbereich ermöglicht. Dabei gelingt es mit dem in-situ-lift-out-Verfahren im Vergleich zum ex-situ-lift-out-Verfahren dünnere Folien zu präparieren (ca. 40 nm), an denen im Bereich der Grenzfläche zwischen Bonddraht und dem Metallisierungschichtsystem EFTEM-Mappings und HRTEM-Untersuchungen möglich werden. Diese Untersuchungen liefern zusammen mit der Anwendung des FIB als Rasterionenmikroskop neue Erkenntnisse zum Gefüge der Bondkontakte und zum Aufbau der Grenzfläche und erweitern das Verständnis der Verbindungsbildung beim Drahtbonden.