High Temperature Materials and Processes

Heft Open Access

Band 17, Heft 1-2

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High Temperature Materials and Processes

Inhalt

Open Access
TABLE OF CONTENTS

6. Mai 2011

Seiten: I-I

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Preface

6. Mai 2011

Seiten: II-II

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Surface Segregated Layer and Native Oxide Layer Formed on High-Purity Iron Base Alloys by Angle-Resolved XPS

6. Mai 2011

Shigeru Suzuki,

Seiten: 1-12

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Sputter Depth Profiling of Thin Films

6. Mai 2011

Siegfried Hofmann,

Seiten: 13-28

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Use of Post-Ionisation Techniques to Complement SIMS Analysis. A Review With Practical Aspects

6. Mai 2011

H.J. Mathieu,, D. Leonard,

Seiten: 29-44

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Mossbauer Spectroscopy and its Application to Materials Research

6. Mai 2011

Saburo Nasu,

Seiten: 45-56

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Positron Annihilation Method: Thermal and Non-Thermal Defects in Refractory Intermetallics

6. Mai 2011

Y. Shirai,

Seiten: 57-68

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Open Access
Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy

6. Mai 2011

K. Hono,, M. Murayama,

Seiten: 69-86

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Open Access
REVIEW: Quantitative Transmission Electron Microscopy with Imaging Plates

6. Mai 2011

Daisuke Shindo,

Seiten: 87-96

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Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy- The Fundamental Principles

6. Mai 2011

Kazuaki Wagatsuma,

Seiten: 97-116

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Open Access
Structural Characterization of Surfaces and Interfaces of Materials by Applying X-ray Total External Reflection Phenomena

6. Mai 2011

Masatoshi Saito,, Shigeo Sato,, Yoshio Waseda,

Seiten: 117-132

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Open Access
Structural Studies of Aqueous Solutions by the Anomalous X-ray Scattering Method

6. Mai 2011

Eiichiro Matsubara,, Kozo Shinoda,

Seiten: 133-143

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