Röntgentopografische Verfahren mit Klein- und Weitwinkelstreuung — Ein Überblick: Herrn Prof. Dr. rer. nat. Manfred Hentschel zum 65. Geburtstag gewidmet

Jörg Schors; Michael Harwardt; Andreas Kupsch; Axel Lange; Oliver Wald

doi:10.3139/120.100920

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Röntgentopografische Verfahren mit Klein- und Weitwinkelstreuung — Ein Überblick

Herrn Prof. Dr. rer. nat. Manfred Hentschel zum 65. Geburtstag gewidmet

Jörg Schors , Michael Harwardt , Andreas Kupsch , Axel Lange and Oliver Wald

Published/Copyright: May 26, 2013

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From the journal Materials Testing Volume 50 Issue 10

Kurzfassung

Röntgentopografische Verfahren sind dadurch gekennzeichnet, dass die Streueigenschaften eines Probekörpers ortsaufgelöst erfasst werden. Somit vereinen sie die Vorzüge der bildgebenden Eigenschaft der Radiografie mit der Strukturselektivität der Rönt—genanalyse. Sowohl die Röntgen-Weitwinkelstreuung als auch die Röntgen-Kleinwinkelstreuung (bzw. -Beugung und -Refraktion) werden topografisch für die Materialcharakterisierung eingesetzt. Die Topografieverfahren und Untersuchungsbeispiele an modernen Werkstoffen (kohlefaserverstärkte Komposite, Keramiken) werden dargestellt. Schließlich wird ein Beispiel für die Anwendung der Röntgenrefraktions-CT gegeben.

Abstract

The advantage of X-Ray Topography techniques is the possibility to measure the spatial distribution of scattering properties of samples. It is therefore the combination of the advantages of the imaging X-ray radiography and the structure sensitive X-ray analysis. Topography for materials characterization is done using Wide Angle X-Ray Scattering (WAXS) and Small Angle X-Ray Scattering (SAXS), respectively, in the latter case dominated by refraction effects. This article gives an overview on these techniques used to examine modern materials like carbon fibre reinforced plastics and ceramics. An example of computed tomography (CT) of X-Ray refraction (i.e. inner surface density) is given.

Dipl.-Phys. Jörg Schors, geb. 1962, studierte Physik an der Technischen Universität Berlin. Von 1989 bis 1993 arbeitete er auf dem Gebiet der Charakterisierung radiographischen Verfahren und deren Normung, seit 1994 in der AG „Röntgen-Streu-Topografie‟ und hat seitdem mehrere nationale und internationale Projekte zu Röntgenstreuverfahren für die Materialcharakterisierung und Sicherheitstechnik erfolgreich durchgeführt und entwickelt neuartige Streuverfahren.

Ing. Michael Harwardt, geb. 1955, studierte Elektrotechnik an der Technikerschule Berlin. Seit 1991 ist er Mitarbeiter der BAM und ist als Ingenieur mit der Konstruktion von Röntgen-Topografie-Systemen, computergesteuerter Geräte und Messelektronik im Topografie-Labor betraut.

Dr. rer. nat. Andreas Kupsch, geb. 1968, studierte Physik an der Technischen Universität Dresden, wo er 2004 über strukturelle Eigenschaften von Quasikristallen promovierte. Seit 2004 ist er Mitarbeiter der AG „Röntgen-Streu-Topografie‟ an der BAM. Zu seinen Arbeitsgebieten zählen die Computertomographie, die Nutzung der Röntgenbeugung für Sicherheitstechnologien sowie die Anwendung der aufkommenden Terahertz-Technik in der ZfP.

Dipl.-Phys. Axel Lange, geb. 1948, studierte Physik an der Technischen Universität Berlin. Nach mehrjähriger Tätigkeit in der Grundlagenforschung mit Röntgenstreuverfahren wurde er 1987 Mitarbeiter der BAM, wo er in der AG „Röntgen-Streu-Topografie‟ wesentlich an der Entwicklung neuer rechnergestützter Röntgentopografieverfahren beteiligt ist.

Dipl.-Ing. Oliver Wald, geb. 1967, studierte Werkstoffwissenschaften mit Schwerpunkt Polymerphysik an der Technischen Universität Berlin. Seit 1994 ist er in der AG „Röntgen-Streu-Topografie‟, wo er im Rahmen verschiedener Projekte Röntgen-Topografieverfahren in der Werkstoffentwicklung und Materialcharakterisierung zum Einsatz bringt.

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Online erschienen: 2013-05-26

Erschienen im Druck: 2008-10-01

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