International Conference on Precision Measurement (ICPM2008) Part 1: Nanomeasuring and Nanopositioning Technology

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1. International Conference on Precision Measurement (ICPM2008) Part 1: Nanomeasuring and Nanopositioning Technology
2. The Metrological Basis and Operation of Nanopositioning and Nanomeasuring Machine NMM-1 Metrologische Grundlagen und Wirkungsweise der Nanopositionier- und Messmaschine NMM-1
3. Uncertainty Consideration of the Coordinate System in Nanopositioning- and Nanomeasuring Machines Unsicherheitsüberlegungen zum Koordinatensystem in Nano-Positionier- und Messmaschinen
4. Developments in Homodyne Interferometry Fortschritte in der Homodyn-Interferometrie
5. The Application of the Dual-Beam Laser Interferometer for Calibration Precision Machine Tools Anwendung eines Zweistrahl-Laserinterferometers zur Kalibrierung von Präzisionswerkzeugen
6. Design of a Novel Low-Cost and Long-Stroke Co-Planar Stage for Nanopositioning Neuartiger preisgünstiger Zwei-Ebenen-Positioniertisch für die Nanopositionierung
7. Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy Interferometrische Abstandsmessung für das scannende Mikroskopieverfahren
8. An Improved Three-Probe Method for Precision Measurement of Straightness Verbesserung der Drei-Sensoren-Methode für die Präzisions-Geradheitsmessung
9. Improving the Speed of AFM by Mechatronic Design and Modern Control Methods Geschwindigkeitsverbesserung beim AFM mittels mechatronischem Design und modernen Regelmethoden
10. Navigation in a Large Measurement Volume by Using AFM Technology as a Sensor System in the NPMM Navigation in einem großen Messvolumen in der Nanopositionier- und Mess-Maschine (NPMM) mittels AFM-Technologie
11. Veranstaltungen von Mai 2009 bis Oktober 2009