Signalverarbeitung bei tiefen-scannenden 3D-Sensoren für neue industrielle Anwendungen (Analysis of Signals from Depth-Scanning 3D-Sensors for Novel Industrial Applications)
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R. Windecker
Viele moderne, erfolgversprechende Verfahren zur Bestimmung der 3D-Gestalt eines Objektes basieren auf einem tiefen-scannenden Ansatz. Hierbei kommt der Signalverarbeitung eine besondere Rolle zu. Zum einen werden sehr effiziente Algorithmen benötigt, da die Datenmenge i.A. sehr hoch ist. Zum anderen soll der Algorithmus robust und genau sein, um die Vorteile der Durchfokussierung auch nutzen zu können. Am Beispiel der Weißlichtinterferometrie (WLI) und der tiefen-scannenden Streifenprojektion (DSFP) wird gezeigt, wie ein generalisierter Ansatz zur Auswertung entsprechender Datensätze gewonnen und in die Praxis umgesetzt werden kann. Die Vorteile dieses Ansatzes – auch bei Störgrößen – werden detailliert dargestellt.
Many promising modern methods for the determination of the 3-D shape of a specimen use a depth-scanning approach. The signal evaluation plays a key role in this process. In order to benefit from the in-depth focussing, high-efficient algorithms are needed which feature robustness and accuracy. We show a generalized solution for this problem and apply it to the white-light interferometry (WLI) and to the depth-scanning fringe projection (DSFP) as examples. The advantages of this approach are discussed in detail.
Articles in the same Issue
- Fringe 2001, 4. Internationaler Workshop zur automatischen Verarbeitung von Streifenmustern
- Kombinierter Einsatz von Scherografie und Thermografie zur Charakterisierung thermo-mechanischer Beanspruchung (Combined Shearography and Thermography Measurements of Thermo-mechanical Deformations)
- Scherografie – die Umsetzung des Prinzips in ein mobiles Prüfsystem (Shearography – the Implementation of the Principle into a Mobile Inspection System)
- Detektion und Analyse von Materialfehlern nach dem Prinzip „Erkennung durch Synthese” (Detection and Analysis of Material Faults using the Principle “Recognition by Synthesis”)
- Anwendung von Wavelet-Filtern in einem optischen Prozessor zur automatischen Fehlererkennung in Interferogrammen (The Application of Wavelet Filters in Convolution Processors for the Automatic Detection of Faults in Fringe Pattern Systems)
- Kalibrierstrategie für optische 3D-Koordinatenmessgeräte, basierend auf streifenprojektionstechnischen und fotogrammetrischen Algorithmen (Calibration Strategy for Optical 3D Coordinate Measuring Machines based on Projected Fringes and Photogrammetric Algorithms)
- Signalverarbeitung bei tiefen-scannenden 3D-Sensoren für neue industrielle Anwendungen (Analysis of Signals from Depth-Scanning 3D-Sensors for Novel Industrial Applications)
- Der Einsatz von Simulationen zur Bestimmung der Messunsicherheit von Interferometern (Assessment of the Measurement Uncertainty of Interferometers by Means of Simulation)
- Polychromatische Fernfeld-Specklemuster mit kontinuierlichem oder diskretem Spektrum zur Charakterisierung von Oberflächenrauheiten (Surface Roughness Characterization based on Polychromatic Far-field Speckles of Continuous or Discrete Spectral Distribution)
- Produktinformationen
- Veranstaltungen Mai–September 2002
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