Anwendung von Wavelet-Filtern in einem optischen Prozessor zur automatischen Fehlererkennung in Interferogrammen (The Application of Wavelet Filters in Convolution Processors for the Automatic Detection of Faults in Fringe Pattern Systems)
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G. Wernicke
Die Wavelet-Transformation hat sich als leistungsfähiges Werkzeug bei der Erkennung von Strukturen mit definierter räumlicher Auflösung erwiesen. Im vorliegenden Aufsatz wird die Filter-Prozedur in der komplexen Ebene nicht nur auf numerische Simulationen erweitert, sondern auch in optischen Experimenten durch einen zweifachen Frequenzebenen-Korrelator angewandt. Hierzu wurden drei räumliche Lichtmodulatoren (SLM) auf der Basis von Twisted-Nematic-Flüssigkristallen verwendet.
The wavelet transform has been proven to be a capable tool for the detection of structures with definite spatial resolution. In this work we extended the filtering procedure to the full complex plane not only in simulation but also in the optical verification by a double frequency plane correlator which is based on three twisted nematic liquid crystal (TN-LC) Spatial Light Modulators (SLM). The paper shows a comparison of the simulation and the optical implementation of the wavelet matched filter approach and discusses the sensitivity of the filter concept.
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- Produktinformationen
- Veranstaltungen Mai–September 2002
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