Scherografie – die Umsetzung des Prinzips in ein mobiles Prüfsystem (Shearography – the Implementation of the Principle into a Mobile Inspection System)
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M. Kalms
Moderne optische Messtechniken wie die Speckle-Scherografie finden sowohl aufgrund ihrer hohen Messempfindlichkeit und Genauigkeit als auch insbesondere wegen ihrer Rückwirkungs- und Zerstörungsfreiheit gegenüber dem Messobjekt wachsendes Interesse nicht nur im Rahmen von Laboruntersuchungen, sondern zunehmend auch im industriellen Umfeld. Optische Sensoren übernehmen bereits heute in den verschiedensten Varianten unentbehrliche Aufgaben an wichtigen Stellen des Produktentstehungsprozesses. In diesem Artikel wird ein komplettes scherografisches Messsystem vorgestellt, das erfolgreich bei der Inspektion von großflächigen Flugzeugkomponenten und Kunstobjekten im Hinblick auf verdeckte Materialfehler, Produktionsmängel und Strukturschwächen eingesetzt wurde.
Modern optical methods such as speckle shearography have attracted interest not only for laboratory investigations but also for applications on the factory floor because they can be sensitive, accurate, non-tactile and non-destructive. Optical inspection and measurement systems are more and more used in the entire manufacturing process. In this paper a complete measurement system on the basis of digital speckle-shearography is described. The system was successfully tested for the inspection of large-scale aircraft components and artworks with respect to material faults and production defects.
Articles in the same Issue
- Fringe 2001, 4. Internationaler Workshop zur automatischen Verarbeitung von Streifenmustern
- Kombinierter Einsatz von Scherografie und Thermografie zur Charakterisierung thermo-mechanischer Beanspruchung (Combined Shearography and Thermography Measurements of Thermo-mechanical Deformations)
- Scherografie – die Umsetzung des Prinzips in ein mobiles Prüfsystem (Shearography – the Implementation of the Principle into a Mobile Inspection System)
- Detektion und Analyse von Materialfehlern nach dem Prinzip „Erkennung durch Synthese” (Detection and Analysis of Material Faults using the Principle “Recognition by Synthesis”)
- Anwendung von Wavelet-Filtern in einem optischen Prozessor zur automatischen Fehlererkennung in Interferogrammen (The Application of Wavelet Filters in Convolution Processors for the Automatic Detection of Faults in Fringe Pattern Systems)
- Kalibrierstrategie für optische 3D-Koordinatenmessgeräte, basierend auf streifenprojektionstechnischen und fotogrammetrischen Algorithmen (Calibration Strategy for Optical 3D Coordinate Measuring Machines based on Projected Fringes and Photogrammetric Algorithms)
- Signalverarbeitung bei tiefen-scannenden 3D-Sensoren für neue industrielle Anwendungen (Analysis of Signals from Depth-Scanning 3D-Sensors for Novel Industrial Applications)
- Der Einsatz von Simulationen zur Bestimmung der Messunsicherheit von Interferometern (Assessment of the Measurement Uncertainty of Interferometers by Means of Simulation)
- Polychromatische Fernfeld-Specklemuster mit kontinuierlichem oder diskretem Spektrum zur Charakterisierung von Oberflächenrauheiten (Surface Roughness Characterization based on Polychromatic Far-field Speckles of Continuous or Discrete Spectral Distribution)
- Produktinformationen
- Veranstaltungen Mai–September 2002
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