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Veröffentlicht/Copyright: 1. November 1999

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"VERANSTALTUNGSKALENDER" tm - Technisches Messen, vol. 66, no. 11, 1999, pp. 472-472. https://doi.org/10.1524/teme.1999.66.11.472

(1999). VERANSTALTUNGSKALENDER. tm - Technisches Messen, 66(11), 472-472. https://doi.org/10.1524/teme.1999.66.11.472

(1999) VERANSTALTUNGSKALENDER. tm - Technisches Messen, Vol. 66 (Issue 11), pp. 472-472. https://doi.org/10.1524/teme.1999.66.11.472

"VERANSTALTUNGSKALENDER" tm - Technisches Messen 66, no. 11 (1999): 472-472. https://doi.org/10.1524/teme.1999.66.11.472

VERANSTALTUNGSKALENDER. tm - Technisches Messen. 1999;66(11): 472-472. https://doi.org/10.1524/teme.1999.66.11.472

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Online erschienen: 1999-11

Erschienen im Druck: 1999-11

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Inhalt
IMPRESSUM
EDITORIAL: Analyse und Modellierung technischer Oberflächen mit kombinativer Lasermeßtechnik / Analysis and Modeling of Technical Surfaces with Combinative Laser Metrology
Hochauflösende Vermessung ausgedehnter technischer Oberflächen mit skalierbarer Topometrie / Highly-Resolved Measurement of Extended Technical Surfaces with Scalable Topometry
Messung und Beschreibung von Mikrostrukturen unter Berücksichtigung materialspezifischer Eigenschaften / Measurement and Description of Microstructures with Consideration of Material-Specific Characteristics
Hochauflösende Topometrie im Kontext globaler Makrostrukturen / High Resolution Topometry in Conjunction with Macro Structures
Hochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien / High-Precision Optical Profilometry at Surfaces with Varying Materials
Präzise Strukturmeßtechnik mit lasergestützter Mikroellipsometrie / Precise Structure Measurement using Laser-Based Microellipsometry
Analyse dynamischer Vorgänge an technischen Oberflächen mit Speckle-Korrelation / Analysis of Surface Processes by Means of Speckle-Correlation
LITERATUR. PRODUKTINFORMATIONEN
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IMPRESSUM
EDITORIAL: Analyse und Modellierung technischer Oberflächen mit kombinativer Lasermeßtechnik / Analysis and Modeling of Technical Surfaces with Combinative Laser Metrology
Hochauflösende Vermessung ausgedehnter technischer Oberflächen mit skalierbarer Topometrie / Highly-Resolved Measurement of Extended Technical Surfaces with Scalable Topometry
Messung und Beschreibung von Mikrostrukturen unter Berücksichtigung materialspezifischer Eigenschaften / Measurement and Description of Microstructures with Consideration of Material-Specific Characteristics
Hochauflösende Topometrie im Kontext globaler Makrostrukturen / High Resolution Topometry in Conjunction with Macro Structures
Hochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien / High-Precision Optical Profilometry at Surfaces with Varying Materials
Präzise Strukturmeßtechnik mit lasergestützter Mikroellipsometrie / Precise Structure Measurement using Laser-Based Microellipsometry
Analyse dynamischer Vorgänge an technischen Oberflächen mit Speckle-Korrelation / Analysis of Surface Processes by Means of Speckle-Correlation
LITERATUR. PRODUKTINFORMATIONEN
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