Startseite Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers
Artikel
Lizenziert
Nicht lizenziert Erfordert eine Authentifizierung

Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers

  • T. Pfeifer und J. Thiel
Veröffentlicht/Copyright: 1. Mai 1993
tm - Technisches Messen
Aus der Zeitschrift tm - Technisches Messen Band 60 Heft 5

Online erschienen: 1993-05
Erschienen im Druck: 1993-05

© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

Artikel in diesem Heft

  1. Inhalt
  2. Impressum
  3. Editorial: Optoelektronische Verfahren in der Fertigungsmeßtechnik
  4. Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
  5. Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers
  6. Aus den Verbänden
  7. Geradheitsmeßgerät mit interner Strahllagekorrektur/ Straightness measurement system with integrated beam position correction
  8. Laser-Tracking-System für 3D-Messungen bewegter Objekte/ Laser tracking system for 3D-realtime measurements of moving objects
  9. Produktinformationen
  10. Buchbesprechungen
  11. Hochauflösende Bildmeßtechnik/ High resolution imaging technology
  12. MICROTECNIC '92: Fertigungsintegrierte Meßtechnik/ MICROTECNIC '92: Production integrated measurement
  13. Aus der Instituten
  14. Produktinformation
  15. Veranstaltungskalender
https://doi.org/10.1524/teme.1993.60.5.185

Artikel in diesem Heft

  1. Inhalt
  2. Impressum
  3. Editorial: Optoelektronische Verfahren in der Fertigungsmeßtechnik
  4. Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
  5. Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers
  6. Aus den Verbänden
  7. Geradheitsmeßgerät mit interner Strahllagekorrektur/ Straightness measurement system with integrated beam position correction
  8. Laser-Tracking-System für 3D-Messungen bewegter Objekte/ Laser tracking system for 3D-realtime measurements of moving objects
  9. Produktinformationen
  10. Buchbesprechungen
  11. Hochauflösende Bildmeßtechnik/ High resolution imaging technology
  12. MICROTECNIC '92: Fertigungsintegrierte Meßtechnik/ MICROTECNIC '92: Production integrated measurement
  13. Aus der Instituten
  14. Produktinformation
  15. Veranstaltungskalender
Jetzt anmelden und 20% sparen
Institutioneller Zugang
Wie funktioniert Authentifizierung?
Haben Sie eine Idee, wie wir unsere Website verbessern können?
Bitte schreiben Sie uns.
© 2025 De Gruyter Brill
Heruntergeladen am 16.9.2025 von https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.1524/teme.1993.60.5.185/html?lang=de
Button zum nach oben scrollen