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Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
-
G. Frankowski
Published/Copyright:
May 1, 1993
Online erschienen: 1993-05
Erschienen im Druck: 1993-05
© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München
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Articles in the same Issue
- Inhalt
- Impressum
- Editorial: Optoelektronische Verfahren in der Fertigungsmeßtechnik
- Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
- Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers
- Aus den Verbänden
- Geradheitsmeßgerät mit interner Strahllagekorrektur/ Straightness measurement system with integrated beam position correction
- Laser-Tracking-System für 3D-Messungen bewegter Objekte/ Laser tracking system for 3D-realtime measurements of moving objects
- Produktinformationen
- Buchbesprechungen
- Hochauflösende Bildmeßtechnik/ High resolution imaging technology
- MICROTECNIC '92: Fertigungsintegrierte Meßtechnik/ MICROTECNIC '92: Production integrated measurement
- Aus der Instituten
- Produktinformation
- Veranstaltungskalender
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- Impressum
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