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Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers

  • T. Pfeifer and J. Thiel
Published/Copyright: May 1, 1993
tm - Technisches Messen
From the journal tm - Technisches Messen Volume 60 Issue 5

Online erschienen: 1993-05
Erschienen im Druck: 1993-05

© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

Articles in the same Issue

  1. Inhalt
  2. Impressum
  3. Editorial: Optoelektronische Verfahren in der Fertigungsmeßtechnik
  4. Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
  5. Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers
  6. Aus den Verbänden
  7. Geradheitsmeßgerät mit interner Strahllagekorrektur/ Straightness measurement system with integrated beam position correction
  8. Laser-Tracking-System für 3D-Messungen bewegter Objekte/ Laser tracking system for 3D-realtime measurements of moving objects
  9. Produktinformationen
  10. Buchbesprechungen
  11. Hochauflösende Bildmeßtechnik/ High resolution imaging technology
  12. MICROTECNIC '92: Fertigungsintegrierte Meßtechnik/ MICROTECNIC '92: Production integrated measurement
  13. Aus der Instituten
  14. Produktinformation
  15. Veranstaltungskalender
https://doi.org/10.1524/teme.1993.60.5.185

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  1. Inhalt
  2. Impressum
  3. Editorial: Optoelektronische Verfahren in der Fertigungsmeßtechnik
  4. Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
  5. Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern/ Absolute interferometry with tunable semiconductor lasers
  6. Aus den Verbänden
  7. Geradheitsmeßgerät mit interner Strahllagekorrektur/ Straightness measurement system with integrated beam position correction
  8. Laser-Tracking-System für 3D-Messungen bewegter Objekte/ Laser tracking system for 3D-realtime measurements of moving objects
  9. Produktinformationen
  10. Buchbesprechungen
  11. Hochauflösende Bildmeßtechnik/ High resolution imaging technology
  12. MICROTECNIC '92: Fertigungsintegrierte Meßtechnik/ MICROTECNIC '92: Production integrated measurement
  13. Aus der Instituten
  14. Produktinformation
  15. Veranstaltungskalender
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