REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement

Christian Stickler

doi:10.1515/pm-2001-381004

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REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement

Christian Stickler

Veröffentlicht/Copyright: 27. Mai 2021

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Aus der Zeitschrift Practical Metallography Band 38 Heft 10

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Stickler, Christian. "REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement" Practical Metallography, vol. 38, no. 10, 2001, pp. 566-590. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381004

Stickler, C. (2001). REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement. Practical Metallography, 38(10), 566-590. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381004

Stickler, C. (2001) REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement. Practical Metallography, Vol. 38 (Issue 10), pp. 566-590. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381004

Stickler, Christian. "REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement" Practical Metallography 38, no. 10 (2001): 566-590. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381004

Stickler C. REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement. Practical Metallography. 2001;38(10): 566-590. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381004

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Online erschienen: 2021-05-27

Erschienen im Druck: 2001-10-01

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Inhalt/Contents
Probenpräparation für die Rückstreuelektronen-Kikuchi-Beugung (Electron Backscatter Diffraction, EBSD) / Specimen Preparation for Electron Backscatter Diffraction — Part I: Metals
Mitteilungen/Information
Markenschutz für Stahlsorten
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Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results
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