Home Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results
Article
Licensed
Unlicensed Requires Authentication

Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results

  • Carsten Siemers , Debashis Mukherji , Christa Grusewski , Martin Bäker and Joachim Rösler
Published/Copyright: May 27, 2021
Become an author with De Gruyter Brill
Submit Manuscript Author Information
Practical Metallography
From the journal Practical Metallography Volume 38 Issue 10

Online erschienen: 2021-05-27
Erschienen im Druck: 2001-10-01

© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

Articles in the same Issue

  1. Inhalt/Contents
  2. Probenpräparation für die Rückstreuelektronen-Kikuchi-Beugung (Electron Backscatter Diffraction, EBSD) / Specimen Preparation for Electron Backscatter Diffraction — Part I: Metals
  3. Mitteilungen/Information
  4. Markenschutz für Stahlsorten
  5. REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement
  6. Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results
  7. Heitere Metallographie/Humorous Metallography
  8. Veranstaltungskalender/Meeting Diary
https://doi.org/10.1515/pm-2001-381005

Articles in the same Issue

  1. Inhalt/Contents
  2. Probenpräparation für die Rückstreuelektronen-Kikuchi-Beugung (Electron Backscatter Diffraction, EBSD) / Specimen Preparation for Electron Backscatter Diffraction — Part I: Metals
  3. Mitteilungen/Information
  4. Markenschutz für Stahlsorten
  5. REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement
  6. Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results
  7. Heitere Metallographie/Humorous Metallography
  8. Veranstaltungskalender/Meeting Diary
Sign up now to receive a 20% welcome discount
Institutional Access
How does access work?
Have an idea on how to improve our website?
Please write us.
© 2025 De Gruyter Brill
Downloaded on 9.9.2025 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.1515/pm-2001-381005/html
Scroll to top button