Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results

Carsten Siemers; Debashis Mukherji; Christa Grusewski; Martin Bäker; Joachim Rösler

doi:10.1515/pm-2001-381005

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Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results

Carsten Siemers , Debashis Mukherji , Christa Grusewski , Martin Bäker und Joachim Rösler

Veröffentlicht/Copyright: 27. Mai 2021

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Aus der Zeitschrift Practical Metallography Band 38 Heft 10

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Siemers, Carsten, Mukherji, Debashis, Grusewski, Christa, Bäker, Martin and Rösler, Joachim. "Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results" Practical Metallography, vol. 38, no. 10, 2001, pp. 591-603. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381005

Siemers, C., Mukherji, D., Grusewski, C., Bäker, M. & Rösler, J. (2001). Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results. Practical Metallography, 38(10), 591-603. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381005

Siemers, C., Mukherji, D., Grusewski, C., Bäker, M. and Rösler, J. (2001) Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results. Practical Metallography, Vol. 38 (Issue 10), pp. 591-603. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381005

Siemers, Carsten, Mukherji, Debashis, Grusewski, Christa, Bäker, Martin and Rösler, Joachim. "Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results" Practical Metallography 38, no. 10 (2001): 591-603. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381005

Siemers C, Mukherji D, Grusewski C, Bäker M, Rösler J. Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results. Practical Metallography. 2001;38(10): 591-603. https://doi.org/10.1515/pm-2001-381005

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Online erschienen: 2021-05-27

Erschienen im Druck: 2001-10-01

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Artikel in diesem Heft

Inhalt/Contents
Probenpräparation für die Rückstreuelektronen-Kikuchi-Beugung (Electron Backscatter Diffraction, EBSD) / Specimen Preparation for Electron Backscatter Diffraction — Part I: Metals
Mitteilungen/Information
Markenschutz für Stahlsorten
REM-ECC Abbildungen und SAC-Diagramme - Verfahren zur zerstörungsfreien Gefügecharakterisierung und Ermittlung der globalen Versetzungsanordnung / SEM-ECC Imaging and SAC-Patterns —- Procedures for the nondestructive characterization of microstructures and for revealing the global dislocation arrangement
Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results
Heitere Metallographie/Humorous Metallography
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