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Raster- und transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen zum Nachweis von Ermüdungsbeanspruchung an ferritischen und austenitischen Bauteilen / Scanning and Transmission Electron Microscopic Investigations to Detect Cyclic Loading in Ferritic and Austenitic Components
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A. Seibold
Veröffentlicht/Copyright:
25. Mai 2021
Online erschienen: 2021-05-25
Erschienen im Druck: 1991-11-01
© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Artikel in diesem Heft
- Titelei
- Inhaltsverzeichnis / Contents
- Raster- und transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen zum Nachweis von Ermüdungsbeanspruchung an ferritischen und austenitischen Bauteilen / Scanning and Transmission Electron Microscopic Investigations to Detect Cyclic Loading in Ferritic and Austenitic Components
- IC-Defektanalyse durch selektive Substratätzung am Beispiel von Au-Al-Bondverbindungen / IC Defect Analysis using Selective Substrate Etching — Examination ofthe Degradation of Au-Al-Bonds
- SEM Characterization of the Martensitic Transformation Induced by Mechanical Compression Cycling in a β-(111) Cu-20.85 Zn-6.15Al Shape Memory Single Crystal / REM-Charakterisierung der durch mechanische Druckzyklen induzierten Martensitumwandlung in einem β-(111)-Einkristall der Formgedächtnislegierung Cu-20.85 Zn-6.15Al
- Keramographie von Hochleistungskeramiken — Werkstoffbeschreibung, Präparation, Atztechniken und Gefügebeschreibung — Teil V: Siliciumnitrid (Si3N4) / Ceramography of High Performance Ceramics - Description of Materials, Preparation, Etching Techniques and Description of Microstructures — Part V: Silicon Nitride (Si3N4)
- Risse an einem Extruderzylinder / Cracks in an Extruder Cylinder
- Tagungskalender / Meeting Diary
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- Inhaltsverzeichnis / Contents
- Raster- und transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen zum Nachweis von Ermüdungsbeanspruchung an ferritischen und austenitischen Bauteilen / Scanning and Transmission Electron Microscopic Investigations to Detect Cyclic Loading in Ferritic and Austenitic Components
- IC-Defektanalyse durch selektive Substratätzung am Beispiel von Au-Al-Bondverbindungen / IC Defect Analysis using Selective Substrate Etching — Examination ofthe Degradation of Au-Al-Bonds
- SEM Characterization of the Martensitic Transformation Induced by Mechanical Compression Cycling in a β-(111) Cu-20.85 Zn-6.15Al Shape Memory Single Crystal / REM-Charakterisierung der durch mechanische Druckzyklen induzierten Martensitumwandlung in einem β-(111)-Einkristall der Formgedächtnislegierung Cu-20.85 Zn-6.15Al
- Keramographie von Hochleistungskeramiken — Werkstoffbeschreibung, Präparation, Atztechniken und Gefügebeschreibung — Teil V: Siliciumnitrid (Si3N4) / Ceramography of High Performance Ceramics - Description of Materials, Preparation, Etching Techniques and Description of Microstructures — Part V: Silicon Nitride (Si3N4)
- Risse an einem Extruderzylinder / Cracks in an Extruder Cylinder
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