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Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen von Querschliffen von Malschichtproben / Scanning Electron Microscopic Investigation of Cross-Sections Taken from Paint Layer Specimens

  • Gerhard Banik , Manfred Schreiner , Franz Mairinger und Herbert Stachelberger
Veröffentlicht/Copyright: 15. April 2025
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Online erschienen: 2025-04-15
Erschienen im Druck: 1982-02-01

© 2025 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

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