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12. Mai 2021
Published Online: 2021-05-12
Published in Print: 1988-09-01
© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Artikel in diesem Heft
- Inhalt
- Kurzfassungen / Summaries
- Impressum
- Notizen...
- ...aus den Verbänden
- ...zum Fachgebiet
- ...aus den Unternehmen
- ...zur Person
- Kalender
- Aufsätze
- Technische Endoskopie
- Kurzberichte
- Geräte für die Industrie-Endoskopie
- Zerstörungsfreie Prüfung durch Ultraschallmikroskopie
- Aufsätze
- Die holografische Interferometrie mit einem Doppelimpulslaser als Verfahren zur betriebsnahen Schadenserkennung
- Kurzberichte
- Bildsensorsystem zur quantitativen Analyse lichtschwacher Proben
- Aufsätze
- Einfluß der Empfängerfilter auf die Qualität der Ultraschallprüfung
- Kurzberichte
- Computergestützte Farbdifferenzmessung
- Vollautomatisches Thermoanalysensystem
- Infrarot-Hochtemperaturkamera
- Portables Spektralphotometer
- Mikroskop-Systeme für photometrische Messungen
- Aufsätze
- Optimierung der Anregung von Longitudinalwellen mit elektrodynamischen Wandlern
- Aufsätze
- Röntgendiffraktometer mit neuen Anwendungen
- Hochauflösende Ultraschallprüfung
- Schallemissionsmessung in der Kunststoffprufung
- Aufsätze
- Bewertung der Stoßfestigkeit von Lackierungen unter viskoelastischen Aspekten
- Normen und Richtlinien, Bücher
- Report
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