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Halbleiteruntersuchungsverfahren im Rasterelektronenmikroskop - EMK/EBIC und Potentialkontrast / Techniques for Studying Semiconductors in the Scanning Electron Microscope - EMF/EBIC and Voltage Contrast

  • W. Schaler and К. Niederauer
Published/Copyright: April 12, 2025
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Practical Metallography
From the journal Practical Metallography Volume 22 Issue 6

Online erschienen: 2025-04-12
Erschienen im Druck: 1985-06-01

© 2025 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

Articles in the same Issue

  1. Titelei
  2. Inhaltsverzeichnis / Contents
  3. Halbleiteruntersuchungsverfahren im Rasterelektronenmikroskop - EMK/EBIC und Potentialkontrast / Techniques for Studying Semiconductors in the Scanning Electron Microscope - EMF/EBIC and Voltage Contrast
  4. Literatur-Notizen / Literature Reviews
  5. Versagensverhalten verstärkter thermoplastischer Kunststoffe / Failure Behaviour of Reinforced Thermoplastic Polymers
  6. The Structure and Mechanical Properties of Fe-Mn-Co and Fe- Mn-Co-Mo Alloys (Part 2) / Gefüge und mechanische Eigenschaften von Fe-Mn-Co- und Fe-Mn-Co-Mo-Legierungen (Teil 2)
  7. Pinholing in Copper Water-Piping / Lochfraß in Wasserleitungsrohren aus Kupfer
  8. Labortip / Laboratory Tip
  9. Mitteilungen/Information
  10. Tagungskalender/Meeting Diary
https://doi.org/10.1515/pm-1985-220601

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  1. Titelei
  2. Inhaltsverzeichnis / Contents
  3. Halbleiteruntersuchungsverfahren im Rasterelektronenmikroskop - EMK/EBIC und Potentialkontrast / Techniques for Studying Semiconductors in the Scanning Electron Microscope - EMF/EBIC and Voltage Contrast
  4. Literatur-Notizen / Literature Reviews
  5. Versagensverhalten verstärkter thermoplastischer Kunststoffe / Failure Behaviour of Reinforced Thermoplastic Polymers
  6. The Structure and Mechanical Properties of Fe-Mn-Co and Fe- Mn-Co-Mo Alloys (Part 2) / Gefüge und mechanische Eigenschaften von Fe-Mn-Co- und Fe-Mn-Co-Mo-Legierungen (Teil 2)
  7. Pinholing in Copper Water-Piping / Lochfraß in Wasserleitungsrohren aus Kupfer
  8. Labortip / Laboratory Tip
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Downloaded on 4.11.2025 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.1515/pm-1985-220601/pdf
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