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                                April 12, 2025
                            
                        
                    
                
            
  Online erschienen: 2025-04-12
 
 
  Erschienen im Druck: 1985-06-01
 
© 2025 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
Articles in the same Issue
- Titelei
 - Inhaltsverzeichnis / Contents
 - Halbleiteruntersuchungsverfahren im Rasterelektronenmikroskop - EMK/EBIC und Potentialkontrast / Techniques for Studying Semiconductors in the Scanning Electron Microscope - EMF/EBIC and Voltage Contrast
 - Literatur-Notizen / Literature Reviews
 - Versagensverhalten verstärkter thermoplastischer Kunststoffe / Failure Behaviour of Reinforced Thermoplastic Polymers
 - The Structure and Mechanical Properties of Fe-Mn-Co and Fe- Mn-Co-Mo Alloys (Part 2) / Gefüge und mechanische Eigenschaften von Fe-Mn-Co- und Fe-Mn-Co-Mo-Legierungen (Teil 2)
 - Pinholing in Copper Water-Piping / Lochfraß in Wasserleitungsrohren aus Kupfer
 - Labortip / Laboratory Tip
 - Mitteilungen/Information
 - Tagungskalender/Meeting Diary
 
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