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SIMS (secondary ion mass spectrometry) imaging: A new approach for studying paper surfaces

  • Jacob S. Brinen , Steven Greenhouse und Nicholas Dunlop-Jones
Veröffentlicht/Copyright: 19. Juli 2018
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Published Online: 2018-07-19
Published in Print: 1991-05-01

© 2018 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

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