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Automatische Erkennung von Oberflächenfehlern mit Methoden der Bildverarbeitung / Automatic inspection of surface defects using image processing techniques
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G. Stein
Veröffentlicht/Copyright:
1. Februar 1985
Online erschienen: 1985-02
Erschienen im Druck: 1985-02
© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München
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Artikel in diesem Heft
- Inhalt / Contents
- Impressum
- Aufsätze
- Entwicklung chemischer Sensoren: Empirische Kunst oder systematische Forschung? / Development of chemical sensors: empirical art or systematic research?
- Gassensoren auf der Basis von Metalloxid-Halbleitern / Gas sensors on the basis of metal oxide semiconductors
- Hinweise für Autoren
- Automatische Erkennung von Oberflächenfehlern mit Methoden der Bildverarbeitung / Automatic inspection of surface defects using image processing techniques
- Notizen
- Charakterisierung technischer Oberflächen für die mittelständische Industrie
- Aufsätze
- Rauheitsmessung mittels Lichtstreuung / Measurement of surface roughness by light scattering method
- tm-Gastvorlesung / tm Tutorial
- Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung
- Produktinformationen / Product information
- Veranstaltungskalender / Meetings to come
Artikel in diesem Heft
- Inhalt / Contents
- Impressum
- Aufsätze
- Entwicklung chemischer Sensoren: Empirische Kunst oder systematische Forschung? / Development of chemical sensors: empirical art or systematic research?
- Gassensoren auf der Basis von Metalloxid-Halbleitern / Gas sensors on the basis of metal oxide semiconductors
- Hinweise für Autoren
- Automatische Erkennung von Oberflächenfehlern mit Methoden der Bildverarbeitung / Automatic inspection of surface defects using image processing techniques
- Notizen
- Charakterisierung technischer Oberflächen für die mittelständische Industrie
- Aufsätze
- Rauheitsmessung mittels Lichtstreuung / Measurement of surface roughness by light scattering method
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