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Mitteilungen / Information
Veröffentlicht/Copyright:
25. Mai 2021
Online erschienen: 2021-05-25
Erschienen im Druck: 1988-06-01
© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Artikel in diesem Heft
- Titelei
- Inhaltsverzeichnis / Contents
- Fluorescence Correction in the Analysis of Thin Layers / Fluoreszenz-Korrektur bei der Analyse von dünnen Schichten
- Elektronenmikroskopische Untersuchungen an dispersionsgehärteten Superlegierungen / Electron-Microscopic Investigations of Dispersion- Strengthened Superalloys
- Heat-Resistant Alloys: State-of-the-Art and Trends of Development / Hitzebeständige Legierungen: Augenblicklicher Stand und Entwicklungstendenzen
- Mikroseigerungen - eine leicht übersehene Einflußgröße bei der Gefügebeschreibung von Gußwerkstoffen / Microsegregations — an Easily Unnoticed Influencing Variable in the Structural Description of Cast Materials
- Untersuchung von Schäden an galvanisierten Bauteilen mit den Methoden der Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse / Examination of Failures on Electroplated Parts by Aid of Scanning Electron Microscopy and Electron Beam Microanalysis
- Mitteilungen / Information
- Tagungskalender / Meeting Diary
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- Titelei
- Inhaltsverzeichnis / Contents
- Fluorescence Correction in the Analysis of Thin Layers / Fluoreszenz-Korrektur bei der Analyse von dünnen Schichten
- Elektronenmikroskopische Untersuchungen an dispersionsgehärteten Superlegierungen / Electron-Microscopic Investigations of Dispersion- Strengthened Superalloys
- Heat-Resistant Alloys: State-of-the-Art and Trends of Development / Hitzebeständige Legierungen: Augenblicklicher Stand und Entwicklungstendenzen
- Mikroseigerungen - eine leicht übersehene Einflußgröße bei der Gefügebeschreibung von Gußwerkstoffen / Microsegregations — an Easily Unnoticed Influencing Variable in the Structural Description of Cast Materials
- Untersuchung von Schäden an galvanisierten Bauteilen mit den Methoden der Rasterelektronenmikroskopie und Elektronenstrahlmikroanalyse / Examination of Failures on Electroplated Parts by Aid of Scanning Electron Microscopy and Electron Beam Microanalysis
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