Different Analyses of Same Electron Diffraction Pattern (Coincidence Ambiguity)/ Mehrdeutige Auswertung von Elektronenbeugungsdiagrammen (Koinzidenz-Zweideutigkeit)

Artikel in diesem Heft

1. Erfahrungen mit einem neuen Gerät zum elektrolytischen Dünnen von Proben für die Durchstrahlungselektronenmikroskopie/ Experiences with a New Apparatus for Electrolytic Thinning of Specimens for Transmission Electron Microscopy
2. Ein orientierungsempfindliches Farbätzverfahren für polykristallines Wolfram/ An Orientation-Sensitive Colour-Etching Technique for Polycrystalline Tungsten
3. Different Analyses of Same Electron Diffraction Pattern (Coincidence Ambiguity)/ Mehrdeutige Auswertung von Elektronenbeugungsdiagrammen (Koinzidenz-Zweideutigkeit)
4. Improved Technique of Thin Foil Preparation of Ni Base Alloys for Electron Microscopy/ Verbessertes Verfahren zur Folienherstellung von Nickellegierungen für die Elektronenmikroskopie
5. Short Communications and Laboratory Tips/ Kurzmitteilungen und Labortips
6. Der Schadensfall/ Failure Examination/
7. Mitteilungen/ Information
8. Sonderlehrgang
9. XXVII. Härterei-Kolloquium
10. Literatur-Notizen/ Literature Reviews/