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Diffusion bonding of gamma-based titanium aluminides

  • Cesar Buque and Fritz Appel EMAIL logo
Published/Copyright: January 3, 2022

Abstract

The paper describes a detailed analysis of diffusion bonding in a binary titanium aluminide alloy of composition Ti-45Al (at.%). The study involves scanning electron microscopy coupled with chemical microanalysis and electron backscattered diffraction (EBSD). Diffusion bonding leads to the formation of a thin layer of a2(Ti3Al) phase at the bonding interface and to a remarkable redistribution of the phase constitution. The micromechanisms behind these phenomena will be discussed with regard to the phase transformations and diffusion processes involved.

Abstract

Der Beitrag beschreibt eine detaillierte Analyse zum Diffusionsschweißen einer binären Titanaluminid-Legierung mit der Zusammensetzung Ti-45Al (at.%). Hierzu wurden Untersuchungen mit Hilfe von Raster-Elektronenmikroskopie durchgeführt, die durch chemische Mikroanalyse und EBSD-Analytik ergänzt wurden. Das Diffusionsschweißen führt in der Verbindungsfläche zur Ausbildung einer dünnen Schicht der a2(Ti3Al)-Phase und zu einer beträchtlichen Umordnung der Phasenverteilung. Die mit diesen Phänomenen in Zusammenhang stehenden Mikromechanismen werden hinsichtlich der beteiligten Phasentransformationen und Transportprozesse diskutiert.


Dedicated to Professor Dr. Haël Mughrabi on the occasion of his 65th birthday

Dr. Fritz Appel Institute for Materials Research GKSS Research Centre D-21502 Geesthacht, Germany Tel.: +49 4152 87 2504 Fax: +49 4152 87 2534

The authors would like to thank E. Tretau, U. Lorenz, V. Küstner, St. Eggert, J. D. H. Paul, and M. Oehring for continuous support and stimulating discussions and to remark that the dedication to Prof. Haël Mughrabi is also on behalf of Prof. Helmut Clemens.


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Received: 2002-04-23
Published Online: 2022-01-03

© 2002 Carl Hanser Verlag, München

Downloaded on 1.2.2026 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.3139/ijmr-2002-0132/html
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