Application of a high temperature chamber for X-ray stress analysis
-
, and
Abstract
The adhesion strength as well as the crack resistance of hard CVD coatings on cutting tools are widely influenced by the appertaining residual stress states. They are generated during cooling down from coating temperature, or during a subsequent heat treatment. To enhance the knowledge of the residual stress development in such CVD coatings on steels, X-ray residual stress analyses were performed during the cooling process. Therefore, a high temperature chamber for a Ψ-diffractometer was developed and manufactured. It allows X-ray residual stress analyses at temperatures of up to at least 1000°C using a measuring range of 2θ ≥ 94° at |Ψ| ≤ 60°.
Kurzfassung
Die Schichthaftung wie auch der Risswiderstand von harten CDV-Schichten auf Schneidwerkzeugen werden stark beeinflusst von den auftretenden Eigenspannungszuständen. Diese entstehen während des Abkühlens von der Beschichtungstemperatur oder bei einer anschließenden Wärmebehandlung. Um das Wissen über die Entstehung der Eigenspannungszustände in solchen CVD-Schichten auf Stählen zu erweitern, wurden röntgenographische Eigenspannungsanalysen während des Abkühlvorgangs durchgeführt. Hierfür wurde ein spezieller Spiegelofen für Ψ-Diffraktometer entwickelt und hergestellt. Er ermöglicht röntgenographische Eigenspannungsanalysen in einem Messbereich von 2θ ≥ 94° bei |Ψ| ≤ 60° und Temperaturen von mindestens 1000°C.
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© 2005, Carl Hanser Verlag, München
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