Spezielle röntgenographische Mikrobeugung

Literatur

1 Kossel, W.; Loeck, V.; Voges, H.: Die Richtungsverteilung der in einem Kristall entstandenen charakteristischen Röntgenstrahlung. Z. f. Physik94 (1935) S. 139–145Search in Google Scholar

2 Borrmann, G.: Röntgenlichtquelle im Einkristall. Naturwiss.23 (1935) S. 591–592Search in Google Scholar

3 Borrmann, G.: Über die Interferenzen aus Gitterquellen bei Anregung durch Röntgenstrahlen. Ann. der Physik27 (1936) S. 669–693Search in Google Scholar

4 Laue, M. v.: Röntgenstrahlinterferenzen. Frankfurt/M. 1960Search in Google Scholar

5 Stephan, D.; Blau, W.; Ullrich, H.-J.; Schulze, G.E.R.: Hell-Dunkel-Struktur der KOSSEL- Interferenzlinien und Kristallstrukturanalyse (I): Theoretisches Linienprofil unter Berücksichtigung der Absorption. Cryst. Res. Technol.9 (1974) S. 707–727Search in Google Scholar

6 Stephan, D.; Ullrich, H.-J.; Schulze, G.E.R.: Hell-Dunkel-Struktur der KOSSEL-Interferenzlinien und Kristallstrukturanalyse (II): Theoretische Linien-Ausläufer und Vergleich mit experimentellen Ergebnissen. Cryst. Res. Technol.11 (1976) S. 475Search in Google Scholar

7 Bauch, J.: Röntgen-Drehschwenk- und KOSSEL-Technik als innovative Mikrobeugungsverfahren und ihr Einsatz in der Materialforschung. Habilitationsschrift, TU Dresden, Institut für Werkstoffwissenschaft, 2001Search in Google Scholar

8 Bauch, J.; Ullrich, H.-J.; Böhling, M.; Reiche, D.: A Comparison of the KOSSEL and the X-ray Rotation-Tilt Technique. Cryst. Res. Technol.38 (2003) S. 440–4498Search in Google Scholar

9 Langer, E.; Däbritz, S.; Hauffe, W.: KOSSEL X-ray Microdiffraction and EBSD as Complementary Methods in the SEM. Proc. Microscopy Conference MC 2003, Dresden 200310.1017/S1431927603014107Search in Google Scholar

10 Ullrich, H.-J.: Präzisionsbestimmung von Gitterkonstanten, Orientierungsbestimmung und Ermittlung von Symmetrieelementen mit der KOSSEL- und Pseudo-KOSSEL- Technik im Rückstrahlbereich Dissertation. TU Dresden, Fak. f. Mathematik u. Naturwiss., 1967Search in Google Scholar

11 Bauch, J.; Ullrich, H.-J.; Röder, R; Kolbe, H.; Eggersdorfer, B.: Registrierung von synchrotronstrahlangeregten KOSSEL-Interferenzen mittels Image Plates. HASYLABJahresbericht1995, S. 1017–1018Search in Google Scholar

12 Bauch, J.; Ullrich, H.-J.; Röder, R.; Kolbe, H.; Eggersdorfer, B.: Eine neue Methode zur Detektion von synchrotron- und elektronenstrahlangeregten KOSSEL-Reflexen. Wiss. Z. Tech. Univers. Dresden45 (1996) 3, S. 68–73Search in Google Scholar

13 Goehner, R.P.; Michael, J.R.: Applied Crystallography in the SEM Using a CCD Detector. Advances in X-ray Analysis38 (1995) S. 539–545Search in Google Scholar

14 Ullrich, H.-J.; Bauch, J.; Lin, H.; Kandler, A.: Laborbericht zur Teststellung des SIEMENS SmartCCD-Detektors 1kx1k, Dresden1997Search in Google Scholar

15 Ullrich, H.-J.; Brechbühl, J.; Bauch, J.; Lin, H.; Bartunik, H.-D.; Bösecke, P.; Bourenkov, G.: Detektion von KOSSEL-Linien mittels marCCD-Detektor. HASYLAB-Jahresbericht 1998, Hamburg, S. 887Search in Google Scholar

16 Ullrich, H.-J.; Schulze, G.E.R.: Röntgenographische Mikrobeugungsuntersuchungen an kristallinen Festkörpern mittels Gitterquelleninterferenzen (KOSSEL-Linien) und Weitwinkelinterferenzen (Pseudo-KOSSELLinien). Cryst. Res. Technol.7 (1972) 1–3, S. 207–220Search in Google Scholar

17 Ullrich, H.-J.: Weiterentwicklung der Elektronenstrahl- Mikroanalyse der KOSSEL-, Punkt-Pseudo-KOSSEL- und Weitwinkel- Interferenzverfahren sowie der Einsatz dieser Methoden in der Festkörperphysik und Werkstofforschung. Habilitationsschrift TU Dresden, Fak. f. Naturwiss. und Mathematik, 1975Search in Google Scholar

18 Ullrich, H.-J.: Progress in the Field of KOSSEL- and Pseudo-KOSSEL-Technique. Mikrochim. Acta (Wien)1990, II, S. 19–2410.1007/BF01244154Search in Google Scholar

19 Lin, H.: Methodische Beiträge zur KOSSELund Pseudo-KOSSEL-Technik. Dissertation, TU Dresden, Institut für Werkstoffwissenschaft, 2000Search in Google Scholar

20 Däbritz, S.; Langer, E.; Hauffe, W.: KOSSEL and Pseudo KOSSEL CCD Pattern in Comparison with Electron Backscattering Diffraction Diagrams. Applied Surface Science179 (2001) S. 38–44Search in Google Scholar

21 Ullrich, H.-J.; Schlaubitz, M.; Friedel, F.; Spann, T., Bauch, J.; Wroblewski, T; Garbe, S.; Gaul, G.; Knöchel, A.; Lechtenberg, F.; Rossmanith, E.; Kumpat, G.; Ulrich, G.: Excitation of KOSSEL Patterns by Synchrotron Radiation. HASYLAB-Jahresbericht1992, Hamburg, S. 627–628Search in Google Scholar

22 Ullrich, H.-J.; Schlaubitz, M.; Friedel, F.; Spann, T.; Bauch, J.; Wroblewski, T.; Garbe, S.; Gaul, G.; Knöchel, A.; Lechtenberg, F.; Rossmanith, E.; Kumpat, G.; Ulrich, G.: Excitation of KOSSEL patterns by synchrotron radiation. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research, A349 (1994) S. 269–273Search in Google Scholar

23 Ullrich, H.-J.; Schlaubitz, M.; Bauch, J.; Straube, H.; Kammrath, W.; Garbe, S.; Lechtenberg, F.; Radtke, M.; Knöchel, A.: Development and Realisation of a KOSSEL Camera for Synchrotron Beam Sources. HASYLAB-Jahresbericht1994, S. 995–996Search in Google Scholar

24 Bauch, J.; Brechbühl, J.; Ullrich, H.-J.; Meinl, G.; Lin, H.; Kebede, W.: Innovative Analysis of X-ray Microdiffraction Images on Selected Applications of the KOSSEL Technique. Cryst. Res. Technol.34 (1999) 1, S. 71–88Search in Google Scholar

25 Brechbühl, J.; Bauch, J.; Ullrich, H.-J.: Measurements of Residual Stresses in Micron Regions by Using Synchrotron Excited KOSSEL Diffraction. Cryst. Res. Technol.34 (1999) 1, S. 59–70Search in Google Scholar

26 Wege, St.: Diplomarbeit, TU Dresden, Institut für Geometrie und Institut für Werkstoffwissenschaft, 2002Search in Google Scholar

27 Bauch, J.; Wege, St.; Böhling, M.; Ullrich, H.-J.: Improved approaches to the determination of residual stresses in micro regions with the KOSSEL and the XRT technique. Cryst. Res. Technol. (eingereicht)Search in Google Scholar

28 Budke, E.; Herzig, Chr.; Prokofjev, S.; Shvindlerman, L.S.: Orientation Dependence of 195Au Diffusion and 64Cu along Symmetric [001] Tilt Grain Boundaries in Cu. Materials Science Forum Vols. 207–209 (1996) S. 465–468Search in Google Scholar

29 Crostack, H.-A.; Fandrich, F.; Wroblewski, T.: Application of a CCD camera system for Xray diffractometric investigations of a single grain in coarse grained materials. HASYLABJahresbericht1996, Hamburg, S. 873–874Search in Google Scholar