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Ein neues Messverfahren zur Bestimmung von Kohlenstoffprofilen∗

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Published/Copyright: May 2, 2013
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HTM Journal of Heat Treatment and Materials
From the journal HTM Journal of Heat Treatment and Materials Volume 59 Issue 4

Kurzfassung

Basierend auf der Sekundärionenmassenspektrometrie als mikrochemische Analysemethode wird ein neues Messverfahren zur Bestimmung von Kohlenstofftiefenverläufen in Eisenwerkstoffen mit hoher Genauigkeit und Ortsauflösung in die Laborpraxis eingeführt. Die Untersuchung erfolgt an metallografisch präparierten Probenquerschnitten. Nach einer detaillierten Verfahrensbeschreibung werden typische Anwendungsfälle aus der Schadensanalyse, Wärmebehandlungstechnologie und Materialforschung diskutiert. Dabei wird u. a. auch eine neue experimentelle Technik zur Messung des Diffusionskoeffizienten von Kohlenstoff in der Austenitphase niedriglegierter Stähle vorgestellt.

Abstract

Based on secondary ion mass spectrometry as a micro chemical analysis method, a new measuring technique for the determination of carbon depth profiles of ferrous materials with high accuracy and special resolution is introduced into laboratory practice. Metallographically prepared sample cross-sections are investigated. After a detailed procedure description, typical applications in the fields of failure analysis, heat treatment technology and material science are discussed. In this connection, also a new experimental technique for the measurement of carbon diffusivities in the austenite phase of low-alloyed steels is presented.

∗

Vorgetragen von P.-J. Wilbrandt auf dem 59. Kolloquium für Wärmebehandlung, Werkstofftechnik, Fertigungs- und Verfahrenstechnik, 8.-10. Oktober 2003 in Wiesbaden.

Dr. rer. nat. Peter-Joachim Wilbrandt, geb. 1948, studierte von 1969 bis 1974 Physik in Göttingen und promovierte 1978 über Keimbildungsmechanismen bei der Rekristallisation von Metallen. Danach arbeitete er als Wissenschaftlicher Angestellter am Institut für Metallphysik (heute Institut für Materialphysik) der Universität Göttingen an verschiedenen Forschungsprojekten. Derzeit leitet er dort den Arbeitsbereich Elektronenmikroskopie und Analytik, in dem auch die Sekundärionenmassenspektrometrie betrieben wird.

Dr. rer. nat. Jürgen Gegner, geb. 1961, studierte Physik an der Universität Erlangen-Nürnberg und diplomierte 1989. Die Promotion erfolgte 1994 am Max-Planck-Institut für Metallforschung Stuttgart im Fach Werkstoffwissenschaft. Danach betreute er Forschungsprojekte an verschiedenen Instituten und am Europäischen Ingenieurszentrum der Firma Loctite GmbH in Garching. Seit 2000 ist er als stellvertretender Leiter Werkstoff-Physik der SKF GmbH in Schweinfurt beschäftigt. Zu seinen Hauptarbeitsgebieten zählen Schadens- und Beanspruchungsanalysen, Materialanalytik, Grenzflächeneigenschaften, Diffusion, Werkstoffmodellierung und Klebetechnik.

Prof. Dr. rer. nat. Reiner Kirchheim, geb. 1943, studierte Physik an der Universität Stuttgart und diplomierte und promovierte am Max-Plack-Institut für Metallforschung Stuttgart. Die Habilitation im Fach Metallkunde erfolgte 1986 an der Universität Stuttgart. Im Jahre 1993 wurde er auf den Lehrstuhl für Metallphysik (heute Lehrstuhl für Materialphysik) der Universität Göttingen berufen. Seine Hauptarbeitsgebiete sind Thermodynamik, Diffusion, Electromigration, Korrosion, Wasserstoff in Metallen und Gefüge-Eigenschaftsbeziehungen.

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Erhalten: 2003-11
Online erschienen: 2013-05-02
Erschienen im Druck: 2004-08-01

© 2004, Carl Hanser Verlag, München

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