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Neue taktile Sensoren für die Mikro- und Nanotechnik New Tactile Sensors for Micro- and Nanotechnology

  • Uwe Brand , Vladimir Nesterov , Lutz Doering , Sebastian Bütefisch , Erwin Peiner , Stephanus Büttgenbach und Joachim Frühauf
Veröffentlicht/Copyright: 19. Februar 2008

Zusammenfassung

Dimensionelle Messungen an Bauteilen der Mikrosystemtechnik waren aufgrund des Fehlens größenangepasster Antastelemente lange Zeit nicht möglich. Zwei neue Mikrotastsysteme auf der Basis von piezoresistiven Siliziumsensoren stehen nun zur Verfügung und können für Präzisionsmessungen eingesetzt werden. Durch die Vielfalt der zu messenden Materialien, unter denen etliche eine geringe Härte aufweisen, kommt der elastischen wie plastischen Deformation beim Messen große Bedeutung bei. Vermeiden lassen sich diese systemischen Abweichungen oder die Kratzer nur durch die Verwendung kleiner Antastkräfte. Der Beitrag beschreibt die entwickelte Mikrokraftmesstechnik und gibt einen Ausblick auf die in Entwicklung befindliche Nanokraftmesstechnik, die für entsprechende rasterkraftmikroskopische Präzisionsmessungen erforderlich ist. Ein Schwerpunkt der Forschungsarbeiten erstreckt sich auf die Modellierung der Deformationen beim taktilen, rasternden Messen.

Abstract

Due to the lack of size-adapted probing elements, it has for a long time not been possible to conduct dimensional measurements on components of microsystem technology. Two new microprobing systems on the basis of piezoresistive silicon sensors are now available and can be used for precision measurements. Due to the diversity of materials to be tested (quite a few of them have a low hardness), the elastic and plastic deformation during the measurement is of great importance. These systematic deviations and the scratches can be avoided only by the use of small probing forces. The paper describes the microforce measuring techniques developed and gives the prospects for nanoforce metrology which is at present under development and which is required for scanning force microscopic precision measurements. A focal point of the research activities concerns the modelling of the deformations during tactile scanning measurements.


* Correspondence address: Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig,

Published Online: 2008-02-19
Published in Print: 2009-06

© by Oldenbourg Wissenschaftsverlag, München, Germany

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