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Miniaturisiertes Halbleiterlaser-Interferometer für die industrielle Wegmessung / Miniaturized semiconductor laser interferometer for industrial displacement measurements
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H.-J. Boehnel
Veröffentlicht/Copyright:
1. September 1985
Online erschienen: 1985-09
Erschienen im Druck: 1985-09
© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München
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Artikel in diesem Heft
- Inhalt / Contents Interferenzoptische Kraftsensoren - eine neue Konzeption für die Kraftmeß- und Wägetechnik Optical interference force sensors - a new conception for force-measuring and weighing techniques
- Impressum
- Interferenzoptische Kraftsensoren - eine neue Konzeption für die Kraftmeß- und Wägetechnik / Optical interference force sensors - a new conception for force-measuring and weighing techniques
- Miniaturisiertes Halbleiterlaser-Interferometer für die industrielle Wegmessung / Miniaturized semiconductor laser interferometer for industrial displacement measurements
- Hinweise für Autoren
- Optoelektronisches Sensorsystem zur Geometrie- prüfung mit automatisierter Bildverarbeitung / Optoelectronic sensor system based on picture processing
- Prozeßrechnergesteuertes Laser-Doppler-Anemometer / Computer controlled laser-Doppler anemometer
- Schnellauflösendes Spektralfotometer für Reflexions- und Transmissionsmessungen an Interferenzschichten / High speed spectrophotometer for reflectance and transmittance measurements of optical interference coatings
- tm-Gastvorlesung / tm Tutorial
- Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung
- Produktinformationen / Product information
- Veranstaltungskalender / Meetings to come
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- Inhalt / Contents Interferenzoptische Kraftsensoren - eine neue Konzeption für die Kraftmeß- und Wägetechnik Optical interference force sensors - a new conception for force-measuring and weighing techniques
- Impressum
- Interferenzoptische Kraftsensoren - eine neue Konzeption für die Kraftmeß- und Wägetechnik / Optical interference force sensors - a new conception for force-measuring and weighing techniques
- Miniaturisiertes Halbleiterlaser-Interferometer für die industrielle Wegmessung / Miniaturized semiconductor laser interferometer for industrial displacement measurements
- Hinweise für Autoren
- Optoelektronisches Sensorsystem zur Geometrie- prüfung mit automatisierter Bildverarbeitung / Optoelectronic sensor system based on picture processing
- Prozeßrechnergesteuertes Laser-Doppler-Anemometer / Computer controlled laser-Doppler anemometer
- Schnellauflösendes Spektralfotometer für Reflexions- und Transmissionsmessungen an Interferenzschichten / High speed spectrophotometer for reflectance and transmittance measurements of optical interference coatings
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