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PARAMETRIC EMPIRICAL BAYES CONFIDENCE INTERVALS BASED ON JAMES-STEIN ESTIMATOR

  • Kun He
Veröffentlicht/Copyright: 1. Februar 1992
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Published Online: 1992-02
Published in Print: 1992-02

© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

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