In-situ lift-out von TEM - Proben durch Mikromanipulation in einem Rasterelektronenmikroskop / In-Situ Lift-Out of TEM - Samples by Micro Manipulation in a Scanning Electron Microscope

Articles in the same Issue

1. Inhalt / Contents
2. Editorial
3. Veranstaltungsankündigung/Event Announcemert
4. 3. Workshop "Präparative Aspekte der TEM"
5. Literatur-Notizen/Literature Reviews
6. Nanotechnologie — Eine Einführung in die Nanostrukturtechnik
7. Charakterisierung tribologischer Kontakte mit FIB und TEM / A Characterization of Tribological Contacts with FIB and TEM
8. Zielpräparation von Proben für 3D-TEM mittels Mikromanipulator / Target Preparation of Samples for 3D-TEM Using Micromanipulators
9. In-situ lift-out von TEM - Proben durch Mikromanipulation in einem Rasterelektronenmikroskop / In-Situ Lift-Out of TEM - Samples by Micro Manipulation in a Scanning Electron Microscope
10. Anwendung der FIB für Materialwissenschaft und Fehleranalyse / Using FIB for Materials Science and Failure Analysis
11. Heitere Metallographie/Humorous Metallography
12. Veranstaltungskalender/Meeting Diary