Startseite Technik TEM-Präparationsverfahren zur Querschnittanalyse von Schnellstopp- Spanproben aus TiAI6V4 / Preparation Method of Ti6Al4V Quick-Stop Specimens for Cross- Sectional TEM-Analyses
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TEM-Präparationsverfahren zur Querschnittanalyse von Schnellstopp- Spanproben aus TiAI6V4 / Preparation Method of Ti6Al4V Quick-Stop Specimens for Cross- Sectional TEM-Analyses

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Veröffentlicht/Copyright: 27. Mai 2021
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Online erschienen: 2021-05-27
Erschienen im Druck: 2004-02-01

© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

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