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Methode zur TEM-Untersuchung der Schmalseite kaltgewalzter AI-Folien / Method for edge-on TEM-observation of cold rolled AI foils

  • H. Abral , P. Schlund , H.-G. Sockel und W. Blum
Veröffentlicht/Copyright: 15. Februar 2024
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Online erschienen: 2024-02-15
Erschienen im Druck: 1998-03-01

© 2024 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

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