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Neues Raster-Tunnelmikroskop
Published/Copyright:
May 8, 2021
Published Online: 2021-05-08
Published in Print: 1990-11-01
© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Articles in the same Issue
- Inhalt
- Amtliche Bekanntmachungen der BAM
- Notizen
- Aus den Instituten
- Aus den Unternehmen
- Kalender
- Leitartikel
- Sind Korrosionsprüf- und -untersuchungsergebnisse aussagefähig für die Praxis?
- Aufsätze
- Ultraschallprüfköpfe aus piezoelektrischen Hochpolymeren
- Kurzberichte
- Neues Meßmikroskop für Kunststoffteile
- Aufsätze
- Praktische Umsetzung des Betriebsfestigkeits-Denkens
- Kurzberichte
- Sensoren für Rißfortschritts- und Rißgeschwindigkeitsmessungen
- Desktop-Rasterelektronenmikroskopie
- Ausleuchtgerät für die Innenprüfung von Rohren
- Aufsätze
- Automatische Zeitstandprüfung mit PC
- Aluminiumoxidfaserverstärkte Aluminiumlegierungen
- Kurzberichte
- Optimierte optische Messung an Bauteilen
- Farbmeßtechnische Software
- Relationales Datenbank-Management-System in der Forschung
- Aufsätze
- Formaldehydabgabe von Materialien - Meßmethoden und ihre Grenzen
- Kurzberichte
- Sieben Merkmale mit einer Prüfstation
- Verbesserte tribologische Prüfgeräte
- Automatisierte Hochtemperatur-Prufung von Keramik
- Industrielle Röntgenprüftechnik
- Aufsätze
- Beschleunigte Alterungsuntersuchungen an Solarabsorberschichten
- Kurzberichte
- Neues Raster-Tunnelmikroskop
- Normen und Richtlinien
- Report
- Impressum
- Jahresinhaltsverzeichnis
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