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Ultrapräzise Fertigung von Kalibriernormalen für Oberflächenmesssysteme

  • E. Brinksmeier

    Prof. Dr.-Ing. habil. Ekkard Brinksmeier, geb. 1952, ist Professor an der Universität Bremen im Fachbereich Produktionstechnik und Direktor der Hauptabteilung Fertigungstechnik der Stiftung Institut für Werkstofftechnik, Bremen. Er leitet das Labor für Mikrozerspanung der Universität Bremen.

    , W. Preuß

    Dr. rer. nat. Werner Preuß, geb. 1951, studierte Physik und Geologie an der Universität Hannover. Seit 1992 ist er Abteilungsleiter im Labor für Mikrozerspanung der Universität Bremen.

    , A. Gessenharter

    Dipl.-Ing. Alexander Gessenharter, geb. 1971, studierte Maschinenbau an der Technischen Universität Berlin und ist seit Oktober 1998 als wissenschaftlicher Mitarbeiter im Labor für Mikrozerspanung der Universität Bremen tätig.

    , H. Trumpold

    Prof. (em) Dr.-Ing. habil. Dr. eh. mult. Harry Trumpold, geb. 1928, war von 1957 bis 1994 Professor und Leiter des Instituts für Fertigungsmesstechnik und Qualitätssicherung an der Technischen Universität Chemnitz. Er koordiniert das EU- Projekt SMT4-CT97-2176: Calibration Standards for Surface Topography Measuring Systems down to Nanometric Range.

    and C. Frenzel

    Dipl.-Ing. Carsten Frenzel, geb. 1972, studierte Maschinenbau an der Technischen Universität Chemnitz und ist seit April 1999 als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Fertigungsmesstechnik und Qualitätssicherung i.G. der Technischen Universität Chemnitz tätig.

Published/Copyright: April 1, 2022

Abstract

Die Kalibrierung von Oberflächenmesssystemen ist wegen der hohen Preise für zertifizierte Kalibriernormale sehr kostenaufwendig. Sie wird daher auch oft durch Prüflaboratorien, z. B den Deutschen Kalibrierdienst (DKD), durchgeführt. Es ist ein Ziel des EU-Forschungsprojektes SMT4-CT97-2176: „Calibration Standards for Surface Topography Measuring Systems down to Nanometric Range“, mit der Anwendung ultrapräziser Dreh-und Fräsprozesse sowie der Entwicklung geeigneter Replikationsverfahren zur Herstellung und Vervielfältigung von Kalibriernormalen preisgünstige Kalibriernormale im Markt zu etablieren und so einen Beitrag zur Qualitätssicherung in der Prüfmittelüberwachung zu leisten.

Abstract

Due to the high prices of certified calibration standards the calibration of surface topography measuring systems is a very costly procedure. Therefore, the calibration of these systems is often performed by special laboratories such as the German Calibration Service (DKD). It is one of the objectives of the EU-project SMT4-CT97-2176: “Calibration Standards for Surface Topography Measuring Systems down to Nanometric Range“ to produce low-priced calibration standards by means of ultra-precise machining and replication processes for a wide range of applications in the market and thus to contribute to quality assurance in the control of measuring systems.

About the authors

Prof. Dr.-Ing. habil. E. Brinksmeier

Prof. Dr.-Ing. habil. Ekkard Brinksmeier, geb. 1952, ist Professor an der Universität Bremen im Fachbereich Produktionstechnik und Direktor der Hauptabteilung Fertigungstechnik der Stiftung Institut für Werkstofftechnik, Bremen. Er leitet das Labor für Mikrozerspanung der Universität Bremen.

Dr. rer. nat. W. Preuß

Dr. rer. nat. Werner Preuß, geb. 1951, studierte Physik und Geologie an der Universität Hannover. Seit 1992 ist er Abteilungsleiter im Labor für Mikrozerspanung der Universität Bremen.

Dipl.-Ing. A. Gessenharter

Dipl.-Ing. Alexander Gessenharter, geb. 1971, studierte Maschinenbau an der Technischen Universität Berlin und ist seit Oktober 1998 als wissenschaftlicher Mitarbeiter im Labor für Mikrozerspanung der Universität Bremen tätig.

Prof. (em) Dr.-Ing. habil. Dr. eh. mult. H. Trumpold

Prof. (em) Dr.-Ing. habil. Dr. eh. mult. Harry Trumpold, geb. 1928, war von 1957 bis 1994 Professor und Leiter des Instituts für Fertigungsmesstechnik und Qualitätssicherung an der Technischen Universität Chemnitz. Er koordiniert das EU- Projekt SMT4-CT97-2176: Calibration Standards for Surface Topography Measuring Systems down to Nanometric Range.

Dipl.-Ing. C. Frenzel

Dipl.-Ing. Carsten Frenzel, geb. 1972, studierte Maschinenbau an der Technischen Universität Chemnitz und ist seit April 1999 als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Fertigungsmesstechnik und Qualitätssicherung i.G. der Technischen Universität Chemnitz tätig.

Literatur

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Received: 2000-12-01
Published Online: 2022-04-01
Published in Print: 2001-04-01

© 2001 Carl Hanser Verlag, München

Downloaded on 21.9.2025 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.1515/htm-2001-0034/html?lang=en
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