Verwendung von Rastern zur Objektivprüfung

Chapters in this book

1. Frontmatter I
2. INHALTSVERZEICHNIS 1
3. 1. Grundlagen
4. Über eine Verallgemeinerung der Schhödinger- Gleichung der Wellenmechanik 7
5. Ottica, fìsica e ottica fìsica 22
6. 2. Halbleiter
7. Optische Eigenschaften und Photoleitung von Kadmiumsulfid 32
8. Photochemische Reaktionen und Lebensdauer von Photozellen 51
9. Einige Untersuchungen über die Ermüdung und Temperaturabhängigkeit von Photoelementen 55
10. 3. Spektroskopie
11. Über die spektroskopische Methode zur quantitativen Bestimmung von ¹⁵N in Stickstoff 58
12. Über die Spektren des Li II und Li III 63
13. Verfahren zur interferometrischen Analyse von Dreistoffgemischen 64
14. Beobachtung magnetischer Kernresonanzen in Emission 68
15. Paramagnetische Elektronenresonanz in Mn-dotiertem Flußspat 74
16. Die Untersuchung eines Organophosphors in vorerregtem Zustand 76
17. 4. Spektralapparate
18. Über Gitterfehler bei Reflexionsgittern 82
19. Über die unvermeidlichen Fehler bei der Registrierung von Spektren 89
20. Оптимальные условия регистрации спектров поглощения 95
21. Experimentelle Untersuchungen über das Leistungsvermögen von Prismen-Monoehromatoren 101
22. Streulichtbestimmungen in Prismenmonochromatoren 104
23. Ein Vakuumgitterspektrometer für das ferne Infrarot 110
24. Über einige Probleme beim Bau eines Vakuumspektrographen 115
25. Der neue Plangitterspektrograph des VEB Carl Zeiss JENA 123
26. 5. Physiologische Optik
27. Über den gegenwärtigen Stand der physiologischen Optik 132
28. Ist die Forschung in der biologischen Optik noch heute aktuell? 150
29. tlber Brillengläser mit gleitender Dioptrienzahl 163
30. 6. Beugungstheorie
31. La diffusion résiduelle des surfaces polies 174
32. Zur Beugungstheorie der Bildfehler 176
33. Bisphärische Flächen als Korrektionsmittel in der photographischen Optik 179
34. 7. Geometrische Optik
35. Untersuchungen über ßrechzahltoleranzen bei einem beliebigen k-flächigen optischen System 185
36. Die Verzeichnung in der Photogrammetrie 192
37. Über den Einfluß von Herstellungsfehlern auf die Verzeichnung und die Kompensationsmöglichkeiten 200
38. Über die praktische Ermittlung der photogrammetrischen Verzeichnung an Überweitwinkelobjektiven im endlichen Abbildungsbereich 209
39. Über die Deformation des LITTROW-Spiegels zur Verringerung des Astigmatismus 216
40. 8. Mikroskopie
41. Über eine Gruppe von Mikroskop-Spiegelobjektiven mit Zentralabschattungen verschiedener Größe 218
42. Weiterentwicklung des lichtoptischen Mikroskops 229
43. Über die Methoden der Mikroskopie mit Röntgenstrahlen 247
44. Über ein Röntgenschattenmikroskop 251
45. Über einige methodische Fortschritte bei der Photometrie strukturierter mikroskopischer Präparate 255
46. 9. Objektiv-Prüfung
47. Aberration Tolerances 259
48. Die Prüfung optischer Systeme mit Hilfe der Kontrastübertragungsfunktion 260
49. Kontrastübertragungsfunktionen vom experimentellen und praktischen Gesichtspunkt 286
50. Messung der Kontrastübertragungsfunktion und Vergleich mit der geometrisch-optischen Korrektion 299
51. Überblick über die Bedeutung verschiedener Objektivprüfmethoden für den Betrieb 304
52. Untersuchungen über die Intensitätsverteilung im Bild von Objektpunkten und Gittern verschiedener Gitterkonstanten 305
53. Quantitative Bestimmung der Abbildungsfehler photographischer Objektive mit Hilfe von TWYMAX-Interferomotern 313
54. Verwendung von Rastern zur Objektivprüfung 325
55. Vergleichende Untersuchungen über verschiedene Verfahren der Äquidensitometrie 332
56. Isogradientverfahren zur Auswertung des photographischen Bildes 349
57. 10. Spezialfragen der technischen Optik und Randgebiete
58. Photomechanische Effekte 354
59. Quantitative Messungen von Schlieren in Gläsern 358
60. Interferenzielle Prüfung der Ebenheit von langen Führungsbahnen 362
61. Über einige neuere Probleme der Grenzflächenoptik absorbierender Medien 369
62. Zwei Geräte zur Mikrospektrometrie mit Spektralphotometern 374
63. Einige Bemerkungen über die Konstruktion von Beleuchtungssystemen und die Beurteilung ihres Wirkungsgrades auf Grund der Konstruktion 377
64. Schwingungen aller Wellenlängen des Erdkörpers 386