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tm - Technisches Messen
Heft
Lizenziert
Nicht lizenziert Erfordert eine Authentifizierung

Band 87, Heft 6 - Modern non-destructive testing / Gastherausgeber: Jürgen Beyerer, Randolf Hanke

tm - Technisches Messen
Heft der Zeitschrift

Inhalt
  • Öffentlich zugänglich
    Frontmatter
    21. Mai 2020
    Seiten: I-IV
  • Editorial
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Modern non-destructive testing
    8. Mai 2020
    Jürgen Beyerer, Randolf Hanke
    Seiten: 381-382
  • Beiträge
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Ellipsometric inline inspection of dielectric substrates with nonplanar surfaces
    6. September 2019
    Matthias Hartrumpf, Chia-Wei Chen, Thomas Längle, Jürgen Beyerer
    Seiten: 383-391
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Laser-Doppler-Vibrometrie an dynamischen Strukturen von Windenergieanlagen
    25. September 2019
    Benjamin Göhler, Peter Lutzmann, Clemens Scherer-Klöckling, Simon Brunner, Ilja Kaufmann
    Seiten: 392-403
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Optical coherence tomography for non-destructive testing
    26. November 2019
    Fabian Zechel, Rouwen Kunze, Niels König, Robert Heinrich Schmitt
    Seiten: 404-413
  • 4. März 2020
    Jochen Aderhold, Peter Meinlschmidt, Friedrich Schlüter
    Seiten: 414-427
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Micromagnetic materials characterization using machine learning
    10. Oktober 2019
    Klaus Szielasko, Bernd Wolter, Ralf Tschuncky, Sargon Youssef
    Seiten: 428-437
  • 5. März 2020
    Ute Rabe, Sergey Pudovikov
    Seiten: 438-450
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