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Kontrastberechnung und Optimierung der optischen Beschichtung in der Interferenzschichten-Metallographie

Published/Copyright: May 2, 2013
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Kurzfassung

Die Theorie der Interferenzschichten-Metallographie wird von ersten Prinzipien ausgehend unter Verwendung komplexer Berechnungstechniken dargestellt. Sie wird angewendet, um den Kontrast zwischen Restaustenit und Martensit zu berechnen, wobei eine logarithmische Definition des Kontrastes entsprechend photographischer Lichtmessstandards zugrunde gelegt ist. Es wird gezeigt, wie die Theorie zur Auffindung des optimalen Beschichtungsmaterials und der optimalen Schichtdicke zum Erreichen maximalen Kontrastes genutzt werden kann. Es wird auch aufgezeigt, wie die visuelle Kontrolle der Schichtdicke zu verbessern ist.

Abstract

The theory of interference layer metallography is represented, starting from first principles by using complex calculation techniques. It is applied to calculate the contrast between retained austenite and martensite using a logarithmic contrast definition in terms of photographic light measuring standards. It is shown how to use the theory for finding out the optimum deposition material and the optimum layer thickness for getting the maximum contrast. It is also shown how to improve the visual control of the layer thickness.


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Translation: W. Gaudig


Literatur / References

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Erhalten: 2006-8-24
Angenommen: 2006-12-14
Online erschienen: 2013-05-02
Erschienen im Druck: 2007-03-01

© 2007, Carl Hanser Verlag, München

Downloaded on 5.4.2026 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.3139/147.100331/html
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