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Veranstaltungskalender Februar - Mai 2003

Published/Copyright: September 25, 2009
tm - Technisches Messen
From the journal tm - Technisches Messen Volume 70 Issue 2

Published Online: 2009-09-25
Published in Print: 2003-02-01

© 2003 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH

Articles in the same Issue

  1. Photonische Messverfahren
  2. Absolut messendes Diodenlaserinterferometer (Diode Laser Interferometer for Absolute Distance Measurement)
  3. Ortsaufgelöste Laser-Doppler-Geschwindigkeitsprofilmessung von Grenzschichtströmungen (Spatial-resolved Laser Doppler Velocity Profile Measurement of Boundary Layer Flows)
  4. Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-Filterung (Optical Processing of Interferometric Fringes and Detection of Faults by Wavelet Filtering)
  5. Laser-Speckle-Dehnungsmessung und deren Anwendung in der Materialwissenschaft (Laser Speckle Strain Measurement and its Application in Material Science)
  6. Simultane Erfassung von 3D-Form und Farbe komplexer Objekte (Simultaneous Measurement of Shape and Color of Complex Objects)
  7. Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten Abstandsmessung (New Concepts for a Fiber Based System for Absolute Distance Measurements)
  8. Formvermessung an bewegten technischen Oberflächen mittels der Speckle-Interferometrie (Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-Interferometry)
  9. Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen Projektionsmustern (Generation and Evaluation of Object Adapted Inverse Patterns for Projection)
  10. Produktinformationen
  11. Veranstaltungskalender Februar - Mai 2003
https://doi.org/10.1524/teme.70.2.107.20102

Articles in the same Issue

  1. Photonische Messverfahren
  2. Absolut messendes Diodenlaserinterferometer (Diode Laser Interferometer for Absolute Distance Measurement)
  3. Ortsaufgelöste Laser-Doppler-Geschwindigkeitsprofilmessung von Grenzschichtströmungen (Spatial-resolved Laser Doppler Velocity Profile Measurement of Boundary Layer Flows)
  4. Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-Filterung (Optical Processing of Interferometric Fringes and Detection of Faults by Wavelet Filtering)
  5. Laser-Speckle-Dehnungsmessung und deren Anwendung in der Materialwissenschaft (Laser Speckle Strain Measurement and its Application in Material Science)
  6. Simultane Erfassung von 3D-Form und Farbe komplexer Objekte (Simultaneous Measurement of Shape and Color of Complex Objects)
  7. Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten Abstandsmessung (New Concepts for a Fiber Based System for Absolute Distance Measurements)
  8. Formvermessung an bewegten technischen Oberflächen mittels der Speckle-Interferometrie (Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-Interferometry)
  9. Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen Projektionsmustern (Generation and Evaluation of Object Adapted Inverse Patterns for Projection)
  10. Produktinformationen
  11. Veranstaltungskalender Februar - Mai 2003
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