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Veranstaltungskalender Februar - Mai 2003
Published/Copyright:
September 25, 2009
Published Online: 2009-09-25
Published in Print: 2003-02-01
© 2003 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH
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Articles in the same Issue
- Photonische Messverfahren
- Absolut messendes Diodenlaserinterferometer (Diode Laser Interferometer for Absolute Distance Measurement)
- Ortsaufgelöste Laser-Doppler-Geschwindigkeitsprofilmessung von Grenzschichtströmungen (Spatial-resolved Laser Doppler Velocity Profile Measurement of Boundary Layer Flows)
- Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-Filterung (Optical Processing of Interferometric Fringes and Detection of Faults by Wavelet Filtering)
- Laser-Speckle-Dehnungsmessung und deren Anwendung in der Materialwissenschaft (Laser Speckle Strain Measurement and its Application in Material Science)
- Simultane Erfassung von 3D-Form und Farbe komplexer Objekte (Simultaneous Measurement of Shape and Color of Complex Objects)
- Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten Abstandsmessung (New Concepts for a Fiber Based System for Absolute Distance Measurements)
- Formvermessung an bewegten technischen Oberflächen mittels der Speckle-Interferometrie (Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-Interferometry)
- Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen Projektionsmustern (Generation and Evaluation of Object Adapted Inverse Patterns for Projection)
- Produktinformationen
- Veranstaltungskalender Februar - Mai 2003
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