Bildverarbeitung und Simulation in der statistisch optischen Oberflächenmesstechnik Image Processing and Simulation Methods for Statistic Optical Surface Measuring Techniques
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Stefan Patzelt
Zusammenfassung
Streulichtbasierte Oberflächenmessverfahren eignen sich aufgrund der schnellen und berührungslosen Messdatenerfassung für den Einsatz in laufenden Fertigungsprozessen (in-prozess). Der Beitrag beschreibt verschiedene Streulicht-Messeffekte (Speckle-Elongation, Speckle-Intensitätsmodulation, Speckle-Bewegung) und deren Modellierung. Die resultierenden Laserstreulicht-Bilder werden digital verarbeitet und ausgewertet, um quantitative Informationen über das Werkstück (Position, Identifikation) oder die Oberflächenrauheit zu erhalten.
Abstract
Fast and non-contacting scattered light surface measuring techniques enable measurements in running production processes (in-process). The paper describes different scattered light measuring effects (speckle elongation, speckle intensity modulation, speckle movement) and their simulation. The resulting speckle intensity distributions are processed digitally and evaluated in order to obtain quantitative information about the workpiece (position, identification) or the surface roughness.
© by Oldenbourg Wissenschaftsverlag, München, Germany
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