Lock-in-Shearografie: Prinzip und Anwendung (Lock-in Shearography: Principle and Application)
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Die Shearografie ist ein etabliertes optisches Verfahren zur Erfassung verborgener Defekte in Bauteilen. Es eignet sich für die kontaktfreie flächige zerstörungsfreie Prüfung, wobei nur mechanisch relevante Defekte erfasst werden. Die Verwendung einer periodischen Bauteilbelastung und einer speziellen Auswertung (Lock-in-Technik) bietet im Vergleich zur konventionellen Shearografie erhebliche Vorteile, wie z.B. Defektselektivität, verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis und Tiefenauflösung. Die Leistungsfähigkeit dieser Lock-in-Shearografie wird im Folgenden anhand von Modellproben und Realbauteilen vorgestellt.
Shearography is an optical method commonly used to detect hidden defects in materials. It is suited for remote imaging and non-destructive testing of components to reveal defects of mechanical relevance. Modulated object excitation in combination with special data processing (lock-in technique) provides substantial advantages compared to conventional shearography, e. g. defect selectivity, enhanced signal-to-noise ratio, and depth resolution. This article demonstrates the performance of lock-in shearography on model samples and industrial components.
© Oldenbourg Wissenschaftsverlag
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