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Interferometrischer Sensor und interferometrisches Kalibriersystem für Ultrapräzisions-Anwendungen (Interferometric Sensor and Calibration System for High-Precision Applications)

  • Matthias Welter , Eberhard Manske and Gerd Jäger
Published/Copyright: September 25, 2009
tm - Technisches Messen
From the journal Volume 72 Issue 10

Abstract

Es wurde ein kompaktes, ultrapräzises Laserkalibriersystem aufgebaut und erfolgreich getestet. Das System besteht unter anderem aus einem neuen interferometrischen Winkel- und Längensensor und einer DSP-gestützten Signalverarbeitungseinheit. Es wird mittels Matlab gesteuert, sodass Messabläufe und Datenauswertung sehr einfach und flexibel gestaltet werden können. Mit Hilfe eines Autokollimators, eines induktiven Tasters und eines AFM konnten die Eigenschaften des Kalibriersystems erfolgreich demonstriert werden. Derzeit sind statische eindimensionale Kalibrierungen mit Schrittweiten von 20 pm bis ±6 μm sowie dynamische bei Frequenzen bis 2 kHz möglich.

Abstract

A compact calibration system has been designed and successfully tested. The system consists of an interferometric angle and length sensor as well as a DSP-based hardware signal processing system. A PC-based frontend using Matlab allows an easy setup of user-specific scripts for numerous calibration tasks.

The sensor’s and system’s capabilities have been successfully demonstrated using a high-resolution autocollimator, an AFM and an inductive tactile probe as calibration samples. Calibrations are possible with step sizes ranging from 20 pm up to ±6 μm and several waveforms for dynamic calibration at frequencies currently up to 2 kHz.

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References

1 A.S. Morris, Measurement and Calibration Requirements for Quality Assurance to ISO 9000, New York: Prentice Hall, 1 ed., 1997.Search in Google Scholar

2 M. Welter, E. Manske, and G. Jäger, „A new tool for the calibration of Scanning Probe Microscopes“, in Proceedings of the 5th Seminar on Quantitative Microscopy […] NanoScale 2001, K. Hasche, ed., pp. 178–184, Braunschweig: Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bremerhaven: Wirtschaftsverlag NW, November 2001.Search in Google Scholar

3 P.L.M. Heydeman, „Determination and correction of quadrature fringe measurement errors in interferometers“, Applied Optics20(19), pp. 3382–3384, 1981.10.1364/AO.20.003382Search in Google Scholar

4 O. Cíp and F. Petru, „A scale-linearization method for precise laser interferometry“, Measurement Science and Technology11, pp. 133–141, 2000.10.1088/0957-0233/11/2/305Search in Google Scholar

5 T. Eomet al., „The dynamic compensation of non-linearity in a homodyne laser interferometer“, Measurement Science and Technology12, pp. 1734–1738, 2001.10.1088/0957-0233/12/10/318Search in Google Scholar

6 H. Büchneret al., „Interferometrisches Meßverfahren zur berührungslosen und quasi punktförmigen Antastung von Meßoberflächen“, Technisches Messen59(2), pp. 43–47, 1992.10.1524/teme.1992.59.2.43Search in Google Scholar

Published Online: 2009-09-25
Published in Print: 2005-10-01

© Oldenbourg Verlag

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