Numerische Feldsimulation mit der Methode der Finiten Integration – Möglichkeiten und Grenzen (Numerical Field Simulation Using the Finite Integration Method – Possibilities and Limits)
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In diesem Artikel wird die elektromagnetische Feldberechnung auf der Basis der Methode der Finiten Integration vorgestellt. Ihre aktuellen Möglichkeiten und Grenzen werden anhand einiger praxisrelevanter komplexer Anwendungsbeispiele gezeigt. Typische praktische Probleme stammen aus dem Bereich der Elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV), z.B. Simulationen von parasitären Übersprechvorgängen zwischen Leiterbahnen, Verbindungsstecker- und Microchip-Pins oder die Berechnung der Strahlenbelastung durch technische Geräte wie PCs, Autoantennen oder Mobilfunktelefone.
In this paper we present the electromagnetic field calculation based on the Finite Integration Method (FI). The possibilities and limits of this method are demonstrated with some realistic complex applications. Such practical problems in the field of electromagnetic compatibility are e.g. crosstalk phenomena in microstrip designs, in connector and microchip pins, and the simulation of electromagnetic emissions of technical devices such as personal computers, car antennas, or mobile phones.
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