In-process-Charakterisierung von Oberflächen-Mikrotopographien mittels Specklekorrelations-Verfahren (In-process Characterization of Surface Microtopographies Using Speckle Correlation Methods)
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S. Patzelt
Die Messaufgabe der In-process-Charakterisierung von Rauheiten technischer Oberflächen ist nach wie vor unzureichend gelöst. Konventionelle, profilometrische Messverfahren ermöglichen bestenfalls eine In-situ-Bestimmung von Oberflächenrauheiten, d.h. am ruhenden Objekt. Im Gegensatz dazu besitzen Laserstreulichtverfahren die Möglichkeit des In-process-Einsatzes. Im vorliegenden Beitrag werden neue Ansätze parametrisch optischer Messverfahren zur Charakterisierung sehr glatter Oberflächen (Ra ≤ 0,15 μm) sowie zur Beurteilung von Material-Ermüdungszuständen infolge zyklischer Beanspruchung vorgestellt.
The task of in-process roughness characterization of engineered surfaces has not been solved adequately so far. At best, conventional measuring instruments enable an in-situ roughness characterization, i.e. if the surface investigated is at rest. Measuring devices based on scattered coherent light have in-process capabilities. This paper presents new approaches of parametric optical measurements for the characterization of the roughness of smooth surfaces (Ra ≤ 0,15 μm) and fatigue states of periodically stressed materials.
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