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High voltage RF-multiplexer for medical applications

Development of a test environment up to 100 V and 100 MHz
  • Bjoern Bieske

    Björn Bieske, DL5ANT has studied information techniques at the Technische Universität Ilmenau. Since 1991 he was working there in the department RF techniques in several projects. In 1996 he joined the IMMS GmbH and is responsible for the fields of RF systems and RF measurement techniques.

    Industrielle Elektronik und Messtechnik/Industrial Electronics and Measurement Engineering, IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany,Web: www.imms.de

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    and Dagmar Kirsten

    X-FAB Semiconductor Foundries AG, 99097 Erfurt, Germany, Web: www.xfab.com

Published/Copyright: January 4, 2018

Abstract

Ultrasound solutions are widely used in industrial and medical applications for distance measurements and imaging. A multiplexing switch unit is required to drive a piezoelectric transducer array for imaging by a single ultrasound pulse source. Higher frequencies are required for better image resolution. The necessary multiplexer has to handle these high driving voltages up to 100 V at high frequencies up to 100 MHz. The test environment and methodology for semiconductor multiplexer circuits are described in this article. The main focus is set on the generation of large test signals needed to drive the multiplexer.

Zusammenfassung

Ultraschall wird in vielen Bereichen von industriellen und medizinischen Applikationen zur Entfernungsbestimmung und für bildgebende Verfahren genutzt. Zur Ansteuerung eines piezoelektrischen Transducerarrays mit einer einzelnen Ultraschall-Impulsquelle wird eine Umschalteinheit benötigt. Für eine bessere Auflösung der Ultraschallbilder werden höhere Frequenzen erforderlich. Der benötigte Multiplexer muss diese hohe Ansteuerspannung bis zu 100 V bei Frequenzen bis zu 100 MHz schalten können. Die Testumgebung und -methodik für Multiplexer-Halbleiter-Schaltkreise wird in diesem Artikel beschrieben. Der Schwerpunkt wird auf die Generierung der Testsignale gelegt, welche zur Großsignal-Ansteuerung der Multiplexer-Schaltkreise dienen.

About the authors

Bjoern Bieske

Björn Bieske, DL5ANT has studied information techniques at the Technische Universität Ilmenau. Since 1991 he was working there in the department RF techniques in several projects. In 1996 he joined the IMMS GmbH and is responsible for the fields of RF systems and RF measurement techniques.

Industrielle Elektronik und Messtechnik/Industrial Electronics and Measurement Engineering, IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany,Web: www.imms.de

Dagmar Kirsten

X-FAB Semiconductor Foundries AG, 99097 Erfurt, Germany, Web: www.xfab.com

Received: 2017-9-19
Revised: 2017-12-12
Accepted: 2017-12-12
Published Online: 2018-1-4
Published in Print: 2018-5-25

© 2018 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston

Downloaded on 12.9.2025 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.1515/teme-2017-0117/html
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